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Vision Datum  |  SKU: iBoostX-257GSW32M-SJ

IMX990 IMX991 IMX992 InGaAs SWIR 영역 스캔 카메라

Normaler Preis $8,665.00
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제품 설명

SWIR 면적 스캔 카메라 는 가시광선에서 단파장 적외선(SWIR)에 이르는 넓은 스펙트럼 범위에서 고감도 애플리케이션을 위해 설계된 고급 영상 솔루션입니다. Sony IMX990, IMX991, IMX992 센서를 탑재하여 저조도 및 까다로운 영상 환경에서도 정밀하고 고대비 이미지를 제공합니다.

반도체 검사, 재료 분류, 산업용 모니터링과 같은 요구 사항이 높은 산업용 애플리케이션을 위해 설계된이 카메라들은 복잡한 조명 조건에서도 뛰어난 이미지 품질, 우수한 신호 대 잡음 성능, 그리고 안정적인 작동을 제공합니다.

640 × 512, 1280 × 1024, 2048 × 1536, 2560 × 2048을 포함한 여러 해상도 옵션을 제공하며,SWIR 면적 스캔 카메라는 시스템 통합에 뛰어난 유연성을 제공하여 사용자가 시야각 및 검사 정확도 요구 사항에 따라 최적의 구성을 선택할 수 있습니다.

우수한 광 감도, 넓은 스펙트럼 응답, 견고한 성능을 결합하여, 이 카메라들은 고급 머신 비전 및 검사 시스템에 이상적인 선택입니다.

주요 특징:

  • 가시광선에서 단파장 적외선(SWIR)까지의 넓은 스펙트럼 감도
  • Sony IMX990 / IMX991 / IMX992 고성능 센서
  • 저조도 환경에서의 고대비, 정밀한 영상화
  • 여러 해상도 옵션: 640×512, 1280×1024, 2048×1536, 2560×2048
  • 반도체 검사, 재료 분류, 산업용 모니터링에 이상적

주요 사양 (자세히 문의)

모델 센서 해상도 프레임 레이트 센서 크기 파장 인터페이스
iBX-SWG991A/J IMX991 640x512 257.8FPS 1/4" 400-1700nm GigE
iBX-SWU991A/J IMX991 640x512 350FPS 1/4" 400-1700nm USB3.0
iBX-SWG990A/J  IMX990 1280x1024 90FPS 1/2" 400-1700nm GigE
iBX-SWU990A/J  IMX990  1280x1024 200FPS 1/2" 400-1700nm USB3.0
iBX-SWU993A/J IMX993 2048x1536 93FPS  1/1.8" 400-1700nm USB3.0
iBX-SWU992A/J  IMX992 2560x2048 61.9FPS  1/1.4" 400-1700nm USB3.0
iBX-SWG992A/J  IMX992 2560x2048 22FPS  1/1.4" 400-1700nm GigE

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