SWIR エリアスキャンカメラ

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SWIRエリアスキャンカメラはInGaAsとSony IMX99xセンサーを組み合わせ、 400–2200nm のスペクトル範囲をカバーし、高解像度のSWIRイメージングを実現します。TEC冷却モデルは要求の厳しいアプリケーション向けに安定性を向上させ、GigE、USB3.0、10GigE、Camera Link、CoaXPressインターフェースが利用可能です。

高解像度のSWIRイメージングを必要とする 産業検査、半導体分析、材料選別、低照度イメージング、科学アプリケーションに 最適です。