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Vision Datum  |  SKU: iBt-SW1K-G

iBt-SW1K 1024×1 SWIR Line Scan Camera | 40kHz InGaAs

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FAQ

Q1: What is the resolution of the iBt-SW1K?
A: It provides 1024 × 1 line scan resolution with a 12.5μm pixel size.

Q2: What line rates are available?
A: The GigE version supports up to 29.4kHz, while the Camera Link version supports up to 40kHz.

Q3: What wavelength ranges are supported?
A: The GigE version covers 900–1700nm, while the Camera Link version covers 950–1700nm.

Q4: What interfaces are available?
A: The iBt-SW1K is available with GigE or Camera Link interfaces.

Q5: What lens mounts are supported?
A: The GigE version supports M42 and C-Mount, while the Camera Link version uses an M42 mount.

Q6: What applications is the iBt-SW1K suitable for?
A: It is suitable for material sorting, food inspection, semiconductor inspection, solar cell inspection, surface defect detection, and high-speed web inspection.

Descrizione del prodotto

Fotocamera line scan SWIR da 1024 pixel per ispezione industriale ad alta velocità

L'iBt-SW1K è una fotocamera line scan SWIR ad alta velocità progettata per la visione macchina industriale e le applicazioni di ispezione continua. Con una risoluzione di 1024 × 1 e una dimensione del pixel di 12.5μm, fornisce un'immagine SWIR dettagliata per linee di produzione ad alta velocità.

La fotocamera è disponibile con interfacce GigE e Camera Link, offrendo diverse configurazioni di prestazioni e lunghezza d'onda. La versione GigE supporta una frequenza di riga fino a 29.4kHz, con risposta spettrale da 900–1700nm e interfacce M42/C. La versione Camera Link raggiunge fino a 40kHz, con risposta da 950–1700nm e un attacco M42.

Caratteristiche principali

Risoluzione 1024 × 1 – Imaging lineare SWIR dettagliato.
Dimensione del pixel 12.5μm – Ispezione ad alta risoluzione per applicazioni industriali.
Frequenza di riga fino a 40kHz – Acquisizione ad alta velocità con Camera Link.
SWIR 900–1700nm – Imaging spettrale esteso oltre la luce visibile.
GigE & Camera Link – Opzioni di interfaccia flessibili per l'integrazione di sistema.
Opzioni di attacco M42 / C-Mount – Supporta diverse configurazioni ottiche.

Applicazioni ideali

  • Smistamento dei materiali
  • Ispezione alimentare
  • Ispezione farmaceutica
  • Ispezione dei semiconduttori
  • Ispezione delle celle solari
  • Plastica & Ispezione dei polimeri
  • Rilevamento dei difetti superficiali

Specifiche

Modello
iBt-SW1K
Sensore
InGaAs
Frequenza di riga massima
29.4kHz/40kHz
Dimensione del pixel
12.5 μm
Intervallo spettrale
950-1700nm
Gamma dinamica
≥ 65.2dB
Controllo dell'esposizione
Controllo a tempo / Larghezza di impulso esterna
Interfaccia
GigE/Camera Link
Attacco obiettivo
M42
Temperatura di stoccaggio Temperatura
-20~+75℃
Temperatura di esercizio Temperatura
0℃~ +55℃

Specifiche obiettivo SWIR M42 900-1700nm

 Modello FL Apertura FOV WD
VLEN2-2519SW-H3
25mm
F1.9-22
58°
0.4-0.95m
VLEN2-4016SW-H3
40mm
F1.6-22
37°
0.4-0.95m
VLEN2-5014SW-H3
50mm
F1.4-22
30° /24° /18°
0.4-0.95m

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