SWIR Flächenscan Kamera

SWIR-Flächenscanner-Kameras kombinieren InGaAs- und Sony IMX99x-Sensoren mit 400–2200nm spektraler Abdeckung für hochauflösende SWIR-Bildgebung. TEC-gekühlte Modelle bieten verbesserte Stabilität für anspruchsvolle Anwendungen, mit verfügbaren Schnittstellen wie GigE, USB3.0, 10GigE, Camera Link und CoaXPress.

Ideal für industrielle Inspektion, Halbleiteranalyse, Materialsortierung, Low-Light-Bildgebung und wissenschaftliche Anwendungen die hochauflösende SWIR-Bildgebung erfordern.