SWIR 라인 스캔 카메라

SWIR 라인 스캔 카메라는 고속 연속 검사용으로 설계되었으며 900–1700nm 범위를 커버합니다. 512픽셀부터 2K 구성으로, 10μm부터의 픽셀 크기를 제공하여 생산 라인 애플리케이션에 대한 신뢰할 수 있는 스펙트럼 영상을 제공합니다.

GigE, Camera Link, CoaXPress 인터페이스는 웹 검사, 반도체 검사, 분류, 표면 결함 검출을 위한 고속 머신 비전 시스템에 유연한 통합을 지원합니다..