Cámara de línea de barrido SWIR iBt-SW05K 512x2 29.4kHz 950-1700nm
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Cámara de línea de barrido SWIR iBt-SW05K 512x2 29.4kHz 950-1700nm - 512x2 29.4kHz GigE[950-1700nm] / without lens[with cables] está agotado y se enviará tan pronto como vuelva a estar disponible.
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FAQ
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Cámara de línea de barrido SWIR iBt-SW05K 512x2 29.4kHz 950-1700nm
Cámara de línea de barrido SWIR iBt-SW05K 512x2 29.4kHz 950-1700nm - 512x2 29.4kHz GigE[950-1700nm] / without lens[with cables] está agotado y se enviará tan pronto como vuelva a estar disponible.
Descripción del producto
Cámara de barrido de línea SWIR InGaAs de 512 × 2 para inspección de alta velocidad
La iBt-SW05K es una cámara de barrido de línea SWIR InGaAs de alta velocidad diseñada para aplicaciones de inspección industrial y visión por máquina que requieren imagenización más allá de las longitudes de onda visibles. Operando en el rango SWIR de 950–1700nm, proporciona una imagenización confiable para materiales y defectos que son difíciles de detectar con cámaras visibles convencionales.
Con una resolución de 512 × 2, tamaño de píxel de 25μm y una tasa de línea de hasta 29.4kHz, la cámara está diseñada para inspección continua de alta velocidad. Las interfaces GigE y Camera Link proporcionan una integración de sistema flexible, mientras que el montaje M42 soporta una amplia gama de lentes industriales compatibles con SWIR.
Características principales
- Sensor SWIR InGaAs – Sensible a longitudes de onda de 950–1700nm.
- Tasa de línea de 29.4kHz – Adquisición de alta velocidad para inspección continua.
- Resolución de 512 × 2 – Imagenización de línea SWIR confiable.
- Tamaño de píxel de 25μm – Píxeles grandes para una fuerte sensibilidad SWIR.
- GigE & Camera Link – Conectividad industrial flexible.
- Montaje M42 – Compatible con ópticas de visión por máquina SWIR.
Aplicaciones ideales
- Clasificación de materiales
- Inspección de alimentos
- Inspección farmacéutica
- Inspección de semiconductores
- Inspección de celdas solares
- Plástico & Inspección de polímeros
- Inspección de bobinas
- Detección de defectos de superficie
Especificación
| Modelo |
iBt-SW05K
|
|
Sensor
|
InGaAs
|
|
Resolución
|
512 x 2
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|
Tasa de fotogramas
|
29.4kHz
|
|
Tamaño de píxel
|
25μm
|
|
Rango espectral
|
950-1700nm
|
|
Interfaz
|
GigE/CameraLink
|
|
Lente
|
M42
|
|
Tiempo de exposición
|
0.1us~19800us (paso: 0.1us)
|
|
Rango dinámico
|
≥ 62.2dB
|
|
Modo de disparo
|
Ejecución libre interna / Control de disparo por línea /
Control de disparo por fotograma |
|
Bit de datos
|
8/10/10p/12/12p/14bit
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|
Tamaño de la carcasa
|
60 × 60 × 73 mm
|
|
Temp. de operación
|
-20~75 ° C (Almacenamiento), 0~55° C (Funcionamiento)
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|
Entrada de alimentación
|
DC12-24V (±10%)
|
Especificaciones de la lente SWIR M42 de 900-1700nm
| Modelo | FL | Apertura | FOV | WD |
|
VLEN2-2519SW-H3
|
25mm |
F1.9-22
|
58°
|
0.4-0.95m
|
|
VLEN2-4016SW-H3
|
40mm |
F1.6-22
|
37°
|
0.4-0.95m
|
|
VLEN2-5014SW-H3
|
50mm |
F1.4-22
|
30° /24° /18°
|
0.4-0.95m
|
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