Lente telecéntrica Visible-SWIR 400–1200 nm | Corrección de desplazamiento de enfoque TLVS-H1.1
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Lente telecéntrica Visible-SWIR 400–1200 nm | Corrección de desplazamiento de enfoque TLVS-H1.1 - 0.7x WD: 110mm / Coaxial está agotado y se enviará tan pronto como vuelva a estar disponible.
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Lente telecéntrica Visible-SWIR 400–1200 nm | Corrección de desplaz...
Lente telecéntrica Visible-SWIR 400–1200 nm | Corrección de desplazamiento de enfoque TLVS-H1.1 - 0.7x WD: 110mm / Coaxial está agotado y se enviará tan pronto como vuelva a estar disponible.
Descripción del producto
La serie de lentes telecéntricas Visible-SWIR está diseñada para la imagen de alta precisión en un amplio rango espectral de 400–1200 nm, lo que permite una imagen sin interrupciones desde la luz visible hasta el SWIR sin necesidad de reenfocar. Gracias a la avanzada corrección del desplazamiento de enfoque, estas lentes mantienen imágenes nítidas a través de las longitudes de onda, lo que las hace ideales para aplicaciones que requieren imagen tanto en luz visible como en infrarrojo cercano.
Disponible en aumentos de 0.7×, 1×, 2× y 4×, la serie soporta círculos de imagen de hasta Φ24 mm y ofrece configuraciones de iluminación coaxial y no coaxial. Al eliminar los desplazamientos focales entre las longitudes de onda visibles y SWIR, estas lentes telecéntricas revelan diferencias de materiales y defectos que son difíciles o imposibles de detectar solo con luz visible.
Diseñada para visión por máquina, inspección de semiconductores, análisis de celdas solares e imagen científica, la serie de lentes telecéntricas Visible-SWIR proporciona una imagen confiable y sin distorsión para aplicaciones industriales exigentes.
Características clave
- Amplio rango espectral: 400–1200 nm
- Corrección del desplazamiento de enfoque de visible a SWIR
- No se requiere reenfocamiento entre la imagen visible y SWIR
- Opciones de aumento: 0.7×, 1×, 2×, 4×
- Círculo de imagen de hasta Φ24 mm
- Versiones de iluminación coaxial y no coaxial disponibles
- Óptica telecéntrica de alto contraste y baja distorsión
- Adecuada para imagen industrial y científica
Aplicaciones principales
- Inspección de semiconductores
- Inspección de celdas solares y obleas
- Identificación de materiales
- Inspección de pantallas y vidrio
- Inspección de PCB y electrónica
- Medición de precisión y metrología
- Imagen científica y de laboratorio
- Detección de defectos más allá de las longitudes de onda visibles
Especificaciones
| Modelo | Aum. | WD | Círculo de imagen | Coaxial |
|---|---|---|---|---|
| TLVS-0.7XD-H1.1 | 0.7X | 110 mm | Φ20.5 mm | Sí |
| TLVS-0.7X-H1.1 | 0.7X | 110 mm | Φ20.5 mm | No |
| TLVS-1.0XD-H1.1 | 1.0X | 110 mm | Φ24 mm | Sí |
| TLVS-1.0X-H1.1 | 1.0X | 110 mm | Φ24 mm | No |
| TLVS-2.0XD-H1.1 | 2.0X | 110 mm | Φ24 mm | Sí |
| TLVS-2.0X-H1.1 | 2.0X | 110 mm | Φ24 mm | No |
| TLVS-4.0XD-H1.1 | 4.0X | 110 mm | Φ20.5 mm | Sí |
| TLVS-4.0X-H1.1 | 4.0X | 110 mm | Φ20.5 mm | No |
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