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Vision Datum  |  SKU: iBX-SWU993A

Cámara SWIR USB3.0 iBX-SWU993A/J 2048×1536 IMX993

Precio normal $23,100.00
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FAQ

Q:What is the spectral range of the IMX993 sensor?
A: The Sony IMX993 sensor supports a 400–1700nm spectral range, covering both visible and short-wave infrared wavelengths.

Q: What are the advantages of the IMX993 sensor?
A: The IMX993 offers 2048×1536 high-resolution imaging, enabling detailed inspection and analysis in SWIR applications.

Q: What is this SWIR camera used for?
A: It is commonly used for semiconductor inspection, machine vision, scientific imaging, spectroscopy, and material analysis.

Q: Can SWIR cameras see through silicon?
A: Yes. SWIR wavelengths above approximately 1100nm can penetrate silicon, making SWIR cameras ideal for wafer inspection and electronics analysis.

Q: Why choose TEC Cooling or External Cooling?
A:Cooling helps reduce sensor noise and improve image stability, especially during long exposure imaging or continuous operation.

Q: How do I integrate this camera into a machine vision system?
A: The USB3.0 interface provides fast data transfer and simple integration with industrial PCs, imaging software, and machine vision platforms.

Descripción del producto

Imagen SWIR de alta resolución con Sony IMX993

La cámara SWIR USB3.0 iBX-SWU993A/J incorpora el avanzado sensor InGaAs Sony IMX993, ofreciendo una resolución de 2048 × 1536 y un amplio rango espectral de 400–1700nm para una imagen infrarroja de onda corta detallada.

Diseñada para aplicaciones que requieren un detalle y una sensibilidad de imagen excepcionales, la cámara combina el rendimiento SWIR de alta resolución con la conveniencia de una interfaz USB3.0 para una transferencia de datos rápida y una fácil integración del sistema.

Para garantizar un rendimiento de imagen estable en entornos exigentes, la cámara está disponible con opciones de Refrigeración TEC y Refrigeración Externa, lo que ayuda a reducir el ruido del sensor y mejorar la estabilidad de la imagen durante operaciones prolongadas.

Características principales

  • Sensor SWIR InGaAs Sony IMX993
  • Alta resolución de 2048 × 1536
  • Rango espectral de 400–1700nm
  • Interfaz USB3.0
  • Opción de Refrigeración TEC o Refrigeración Externa
  • Imagen SWIR de alta sensibilidad
  • Rendimiento de bajo ruido
  • Fácil integración para sistemas industriales y científicos

Aplicaciones

  • Inspección de semiconductores
  • Análisis de obleas de silicio
  • Inspección de electrónica
  • Investigación científica
  • Espectroscopía
  • Inspección de celdas solares
  • Visión por máquina industrial
  • Identificación y análisis de materiales

Especificaciones

Modelo
iBX-SWU993A/J
Sensor Sony IMX993
Tipo de sensor Sensor SWIR InGaAs
Resolución
2048 x 1536
Tamaño del sensor
1/1.8"
Tamaño del píxel 3.45μm × 3.45μm
Rango espectral 400nm–1700nm
Tasa de cuadros 93fps
Interfaz USB3.0
Modo de refrigeración Refrigeración TEC / Refrigeración Externa
Tipo de imagen SWIR (Infrarrojo de Onda Corta)
Aplicación Industrial, Científico, Semiconductores, Defensa

 

GigE vs USB3.0 Diferencia

Cámaras SWIR USB3.0 ofrecen una transferencia de datos de alta velocidad y una instalación sencilla de conexión y uso, lo que las hace ideales para laboratorios, I&D y aplicaciones de imagen local.

Cámaras SWIR GigE admiten distancias de cable más largas y una integración más fácil en redes industriales, lo que las hace más adecuadas para la automatización de fábricas y sistemas de múltiples cámaras.

Sony IMX991 SWIR camera inspecting semiconductor wafers for defect detection and quality control

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