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Vision Datum  |  SKU: TLSW-0.5XD-H1.1

سلسلة عدسات SWIR مقربة مركزية TLSW-H1.1 | 950–1800nm لمستشعرات InGaAs مقاس 1.1"

Normaler Preis $6,600.00
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FAQ

Q: What sensors are the TLSW Series lenses designed for?
A: The TLSW Series is optimized for 1.1" InGaAs sensors, including the Sony IMX990, providing high-performance SWIR imaging from 950–1800 nm.

Q: What spectral range do these lenses support?
A: The lenses are specially designed for 950–1800 nm SWIR transmission, enabling imaging beyond the visible spectrum.

Q: What magnification options are available?
A: The series offers 0.5×, 0.7×, 1×, 2×, and 4× magnifications to meet different field-of-view and precision measurement requirements.

Q: Are both coaxial and non-coaxial versions available?
A: Yes. The 1× and 2× models are available in both coaxial and non-coaxial configurations for flexible illumination setups.

Q: Can the depth of field be adjusted?
A: Yes. The 1× and 2× models feature adjustable iris control, allowing users to optimize depth of field for specific applications.

Q: What applications are these SWIR telecentric lenses suitable for?
A: They are ideal for semiconductor inspection, wafer analysis, solar cell inspection, precision metrology, material identification, and scientific imaging.

Q: Why use SWIR telecentric lenses instead of visible-light optics?
A: SWIR telecentric lenses can reveal material differences and defects invisible to visible-light systems, while maintaining low distortion and high measurement accuracy.

وصف المنتج

تم تحسين عدسات TLSW Series SWIR Telecentric Lenses للاستشعارات InGaAs بحجم 1.1 بوصة، بما في ذلك Sony IMX990، لتقديم تصوير عالي الدقة عبر النطاق الطيفي 950–1800 نانومتر. تتوفر بتكبيرات 0.5× و 0.7× و 1× و 2× و 4×، وتكشف هذه العدسات عن الفروق في المواد والعيوب غير المرئية لأنظمة الضوء المرئي.

صُممت سلسلة TLSW للرؤية الآلية والمترولوجيا الدقيقة، وتوفر تشويشاً منخفضاً للغاية ودقة عالية، وتوفر تكوينات محورية وغير محورية. تتميز نماذج 1× و 2× بتحكم قابل للتعديل في القزحية لتحسين عمق الميدان المرن. متوافقة مع كاميرات SWIR وأنظمة C-Mount، وتُعد هذه العدسات مثالية لفحص أشباه الموصلات، وتحليل الرقائق، وفحص الخلايا الشمسية، وتطبيقات التصوير العلمي.

الميزات الرئيسية

  • مُحسَّنة للاستشعارات InGaAs بحجم 1.1 بوصة و Sony IMX990
  • نقل SWIR من 950–1800 نانومتر
  • تكبيرات من 0.5× إلى 4×
  • تشويش منخفض للغاية ودقة عالية
  • تتوفر إصدارات محورية وغير محورية
  • قزحية قابلة للتعديل في نماذج 1× و 2×
  • واجهة C-Mount لتكامل سهل
  • مناسبة للقياس الدقيق وفحص SWIR

التطبيقات الرئيسية

  • فحص أشباه الموصلات والرقائق
  • تحليل الخلايا الشمسية والكهروضوئية
  • المترولوجيا الدقيقة
  • فحص الإلكترونيات
  • تحديد المواد
  • الرؤية الآلية SWIR
  • التصوير العلمي والبحث

المواصفات

عدسة Telecentric SWIR بحجم 1.1 بوصة C-Mount 950-1800nm

الموديل محوري التكبير WD F/# DOF
TLSW-0.5XD-H1.1 نعم 0.5× 116.4mm 6.3 2.02mm
TLSW-0.7XD-H1.1 نعم 0.7× 116.0mm 6.4 1.05mm
TLSW-1.0XD-H1.1 نعم 1.0× 110.0mm 7.0 0.56mm
TLSW-1.0X-H1.1 لا 1.0× 110.0mm 7.0 0.56mm
TLSW-2.0XD-H1.1 نعم 2.0× 110.2mm 11.5 0.23mm
TLSW-2.0X-H1.1 لا 2.0× 110.2mm 11.5 0.23mm
TLSW-4.0XD-H1.1 نعم 4.0× 110.3mm 20.0 0.10mm

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