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Vision Datum  |  SKU: iBX-SWG990A

iBX-SWG990A/J GigE SWIR Camera | Sony IMX990, 1280×1024, 90fps, 400–1700nm

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FAQ

Q: What is the spectral range of the IMX990 sensor?
A: The Sony IMX990 sensor supports a spectral range of 400–1700nm, covering visible and short-wave infrared imaging.

Q: What is this SWIR camera used for?
A: It is used for semiconductor inspection, machine vision, scientific research, silicon imaging, and material analysis.

Q: Can SWIR cameras see through silicon?
A: Yes. SWIR light above ~1100nm can penetrate silicon, allowing internal defect and structure inspection.

Q: What is the benefit of TEC cooling?
A: TEC cooling reduces sensor noise and improves image stability during long exposure and continuous operation.

Q: What is the difference between USB3.0 and GigE SWIR cameras?
A: USB3.0 cameras offer higher speed and are ideal for local systems, while GigE cameras support longer distance and industrial network integration.

Q: What industries use IMX990 SWIR cameras?
A: They are widely used in semiconductor manufacturing, machine vision, electronics inspection, scientific research, and solar cell inspection.

Product Description

The iBX-SWG990A/J GigE SWIR Camera is a high-performance short-wave infrared imaging system based on the Sony IMX990 InGaAs sensor. It delivers 1280 × 1024 resolution, up to 90fps frame rate, and a wide 400–1700nm spectral response range, making it suitable for industrial inspection, machine vision, and scientific imaging applications.

Designed for industrial automation and system-level deployment, the GigE interface enables stable long-distance data transmission, multi-camera synchronization, and seamless integration into factory networks.

The camera supports TEC Cooling and External Cooling options, ensuring low-noise and stable imaging performance in continuous operation environments.

Key Features

  • Sony IMX990 InGaAs SWIR Sensor
  • 1280 × 1024 Resolution
  • Up to 90fps Frame Rate
  • 400–1700nm Spectral Range
  • GigE Vision Interface
  • TEC / External Cooling Options
  • Low Noise, High Sensitivity Imaging

Applications

  • Semiconductor wafer inspection
  • Silicon imaging and defect analysis
  • Industrial machine vision systems
  • Factory automation & inline QC
  • Spectroscopy and scientific imaging
  • Solar cell inspection
  • Electronics and material inspection

Specifications

Model
iBX-SWG990A/J
Sensor Sony IMX990
Sensor Type InGaAs SWIR Sensor
Resolution
1280 x 1024
Sensor Size
1/2"
Pixel Size 5μm × 5μm
Spectral Range 400nm–1700nm
Frame Rate 90fps
Interface GigE
Cooling Mode TEC Cooling / External Cooling
Imaging Type SWIR (Short-Wave Infrared)
Application Industrial, Scientific, Semiconductor, Defense

 

GigE vs USB3.0 Difference

Compared to USB3.0 SWIR cameras, the GigE version offers:

  • Longer cable transmission distance
  • Better suitability for industrial networks
  • Easier integration into distributed systems
  • More stable multi-camera synchronization

USB3.0 models focus more on high-speed local acquisition, while GigE models are optimized for factory-scale deployment and system integration.

Sony IMX991 SWIR camera inspecting semiconductor wafers for defect detection and quality control

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