245MP CXP-12 IMX811 초고해상도 비전 카메라 Mars245MS-12XM/C-M72
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245MP CXP-12 IMX811 초고해상도 비전 카메라 Mars245MS-12XM/C-M72 - 모노 245MP 12fps CXP-12 / 렌즈 미포함 / 케이블 미포함 is backordered and will ship as soon as it is back in stock.
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FAQ
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245MP CXP-12 IMX811 초고해상도 비전 카메라 Mars245MS-12XM/C-M72 - 모노 245MP 12fps CXP-12 / 렌즈 미포함 / 케이블 미포함 is backordered and will ship as soon as it is back in stock.
제품 설명
Mars245MS-12XM/C-M72는 Sony IMX811 대형 센서를 기반으로 한 245MP 초고해상도 산업용 카메라로, 정밀 검사 및 대면적 영상 촬영 애플리케이션을 위해 설계되었습니다.
19200 × 12800 해상도와 CoaXPress-12 (CXP-12) 인터페이스를 갖추고 있어, 극도로 큰 이미지 출력에서도 안정적인 고속 데이터 전송을 제공합니다. 53.95 × 35.97 mm 센서는 초광각 시야를 제공하여 반도체 및 평판 디스플레이 검사에 이상적입니다.
이 카메라는 팬 냉각, M72 마운트 호환성 및 내장형 ISP 처리를 통합하여 유럽과 북미의 까다로운 산업 환경에서 안정적인 작동과 최적화된 이미지 품질을 보장합니다.
주요 특징
- 245MP 초고해상도 영상 촬영
- Sony IMX811 대형 센서
- 19200 × 12800 해상도 출력
- CoaXPress-12 고속 인터페이스
- M72 렌즈 마운트 지원
- 팬 냉각 산업용 디자인
- 내장형 ISP 이미지 최적화
- 연속 작동에 적합
주요 응용 분야
- 반도체 웨이퍼 검사
- 평판 디스플레이 (FPD) 검사
- 정밀 계측 시스템
- 대면적 결함 감지
- 전자 제조 검사
사양
| 모델 | Mars245MS-12XM / Mars245MS-12XC |
| 해상도 | 19200 × 12800 |
| 프레임 레이트 | 12.4 fps |
| 센서 유형 | Sony IMX811 CMOS (64.84 mm) |
| 픽셀 크기 | 2.81 × 2.81 μm |
| 비트 깊이 | 12-bit |
| 모노 / 컬러 | 모노 / 컬러 (Bayer RG) |
| 셔터 유형 | 롤링 셔터 |
| SNR | 44.07 dB |
| 다이내믹 레인지 | 71.7 dB |
| 이미지 형식 | Mono8 / Mono10 / Mono12 / Bayer RG8 / RG10 / RG12 |
| ROI | 지원됨 |
| 플립 (X/Y) | 지원됨 |
| SPC | 지원됨 |
| 노출 시간 | 62 μs – 60 s |
| 데이터 인터페이스 | CoaXPress-12 (CXP-12) |
| 전력 소비 | 30 W |
| 렌즈 마운트 | M72 × 0.75 |
렌즈 사양
가변 아이리스 M72 150MP 텔센트릭 렌즈
| 모델 | 동축 | WD | 배율 | 시야각 |
| BTLM-7.5X-49-Q667(1A) | 없음 | 49mm | 0.75x | 8.9mm |
| BTLM-7.5X-49D-Q667(IA) | 있음 | 49mm | 0.75x | 8.9mm |
표준 M72 150MP 렌즈
| 모델 | EFL | 배율 | WD |
|---|---|---|---|
| VT-LEN72-5545MP150 | 55mm | 0.01x–0.5x | 98mm–∞ |
| VT-LEN72-9040MP150 | 90mm | 0.08x–0.14x | 722–1229mm |
| VT-LEN72-11635MP150 | 116mm | 0.93x–1.07x | 176–192mm |
| VTL-8035-0.3X-FB1955 | 80mm | 0.3x | 280mm–∞ |
| VTL-8035-0.3X-FB465 | 80mm | 0.3x | 280mm–∞ |
| VTL-8035-0.3X-FB318 | 80mm | 0.3x | 280mm–∞ |
AOI 검사에서 텔센트릭 렌즈를 사용하는 이유?
| 표준 렌즈 | 텔센트릭 렌즈 |
|---|---|
| 원근 왜곡 (가까운 것은 크게, 먼 것은 작게 보임) | 원근 왜곡 없음 |
| 거리에 따라 배율이 변함 | 배율 일정 |
| 계측에 부적합 | 정밀 계측을 위해 설계됨 |


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