TLSW-H1.1 SWIR 텔레센트릭 렌즈 시리즈 | 1.1" InGaAs 센서용 950–1800nm
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TLSW-H1.1 SWIR 텔레센트릭 렌즈 시리즈 | 1.1" InGaAs 센서용 950–1800nm - 0.5x f6.3 Coaxial отсутствует на складе и будет отправлен, как только снова появится в наличии.
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FAQ
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TLSW-H1.1 SWIR 텔레센트릭 렌즈 시리즈 | 1.1" InGaAs 센서용 950–1800nm - 0.5x f6.3 Coaxial отсутствует на складе и будет отправлен, как только снова появится в наличии.
제품 설명
TLSW 시리즈 SWIR 정심 렌즈는 Sony IMX990을 포함한 1.1" InGaAs 센서에 최적화되어 950–1800 nm 스펙트럼 범위에서 고정밀 영상화를 제공합니다. 0.5×, 0.7×, 1×, 2×, 4× 배율로 제공되는 이 렌즈들은 가시광 시스템에서는 볼 수 없는 재료의 차이와 결함을 드러냅니다.
머신 비전과 정밀 계측을 위해 설계된 TLSW 시리즈는 초저 왜곡, 고해상도, 그리고 동축 및 비동축 구성을 제공합니다. 1× 및 2× 모델은 유연한 심도 최적화를 위해 조절 가능한 아이리스 제어를 갖추고 있습니다. SWIR 카메라 및 C-Mount 시스템과 호환되는 이 렌즈들은 반도체 검사, 웨이퍼 분석, 태양전지 검사 및 과학 영상화 응용 분야에 이상적입니다.
주요 특징
- Sony IMX990 및 1.1" InGaAs 센서에 최적화
- 950–1800 nm SWIR 전송
- 0.5×에서 4×까지의 배율
- 초저 왜곡 및 고해상도
- 동축 및 비동축 버전 제공
- 1× 및 2× 모델에 조절 가능한 아이리스
- 쉬운 통합을 위한 C-Mount 인터페이스
- 정밀 측정 및 SWIR 검사에 적합
주요 응용 분야
- 반도체 및 웨이퍼 검사
- 태양전지 및 광전지 분석
- 정밀 계측
- 전자 부품 검사
- 재료 식별
- SWIR 머신 비전
- 과학 영상화 및 연구
사양
1.1" C-Mount 950-1800nm SWIR 정심 렌즈
| 모델 | 동축 | 배율 | 작업거리 | F/# | 심도 |
|---|---|---|---|---|---|
| TLSW-0.5XD-H1.1 | 예 | 0.5× | 116.4mm | 6.3 | 2.02mm |
| TLSW-0.7XD-H1.1 | 예 | 0.7× | 116.0mm | 6.4 | 1.05mm |
| TLSW-1.0XD-H1.1 | 예 | 1.0× | 110.0mm | 7.0 | 0.56mm |
| TLSW-1.0X-H1.1 | 아니오 | 1.0× | 110.0mm | 7.0 | 0.56mm |
| TLSW-2.0XD-H1.1 | 예 | 2.0× | 110.2mm | 11.5 | 0.23mm |
| TLSW-2.0X-H1.1 | 아니오 | 2.0× | 110.2mm | 11.5 | 0.23mm |
| TLSW-4.0XD-H1.1 | 예 | 4.0× | 110.3mm | 20.0 | 0.10mm |
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