400–1200 nm 가시광-SWIR 텔레센트릭 렌즈 | 포커스 시프트 보정 TLVS-H1.1
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400–1200 nm 가시광-SWIR 텔레센트릭 렌즈 | 포커스 시프트 보정 TLVS-H1.1 - 0.7x WD: 110mm / 동축 ist auf Lager und wird versandt, sobald es wieder verfügbar ist
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400–1200 nm 가시광-SWIR 텔레센트릭 렌즈 | 포커스 시프트 보정 TLVS-H1.1
400–1200 nm 가시광-SWIR 텔레센트릭 렌즈 | 포커스 시프트 보정 TLVS-H1.1 - 0.7x WD: 110mm / 동축 ist auf Lager und wird versandt, sobald es wieder verfügbar ist
제품 설명
가시광-SWIR 정심 렌즈 시리즈는 400–1200 nm의 넓은 스펙트럼 범위에서 고정밀 영상화를 위해 설계되었으며, 재초점 없이 가시광에서 SWIR까지 원활한 영상화를 가능하게 합니다. 고급 초점 이동 보정 기능을 갖춘 이 렌즈들은 파장 전반에 걸쳐 선명한 이미지를 유지하여 가시광 및 근적외선 영상화가 모두 필요한 응용 분야에 이상적입니다.
0.7×, 1×, 2×, 4× 배율로 제공되며, 최대 Φ24 mm의 이미지 서클을 지원하고 동축 및 비동축 조명 구성을 모두 제공합니다. 가시광과 SWIR 파장 간의 초점 이동을 제거함으로써, 이 정심 렌즈들은 가시광만으로는 탐지하기 어렵거나 불가능한 재료의 차이와 결함을 드러냅니다.
머신 비전, 반도체 검사, 태양전지 분석, 과학적 영상화를 위해 설계된 가시광-SWIR 정심 렌즈 시리즈는 까다로운 산업 응용 분야에 신뢰할 수 있고 왜곡 없는 영상화를 제공합니다.
주요 특징
- 넓은 스펙트럼 범위: 400–1200 nm
- 가시광에서 SWIR까지의 초점 이동 보정
- 가시광 및 SWIR 영상화 간 재초점 불필요
- 배율 옵션: 0.7×, 1×, 2×, 4×
- 최대 Φ24 mm 이미지 서클
- 동축 및 비동축 조명 버전 제공
- 고대비, 저왜곡 정심 광학
- 산업용 및 과학적 영상화에 적합
주요 응용 분야
- 반도체 검사
- 태양전지 및 웨이퍼 검사
- 재료 식별
- 디스플레이 및 유리 검사
- PCB 및 전자제품 검사
- 정밀 측정 및 계측
- 과학 및 실험실 영상화
- 가시광 파장 이상의 결함 탐지
사양
| 모델 | 배율 | 작업거리 | 이미지 서클 | 동축 |
|---|---|---|---|---|
| TLVS-0.7XD-H1.1 | 0.7X | 110 mm | Φ20.5 mm | 예 |
| TLVS-0.7X-H1.1 | 0.7X | 110 mm | Φ20.5 mm | 아니오 |
| TLVS-1.0XD-H1.1 | 1.0X | 110 mm | Φ24 mm | 예 |
| TLVS-1.0X-H1.1 | 1.0X | 110 mm | Φ24 mm | 아니오 |
| TLVS-2.0XD-H1.1 | 2.0X | 110 mm | Φ24 mm | 예 |
| TLVS-2.0X-H1.1 | 2.0X | 110 mm | Φ24 mm | 아니오 |
| TLVS-4.0XD-H1.1 | 4.0X | 110 mm | Φ20.5 mm | 예 |
| TLVS-4.0X-H1.1 | 4.0X | 110 mm | Φ20.5 mm | 아니오 |
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