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Vision Datum  |  SKU: TLSW-0.5XD-H1.1

TLSW-H1.1 SWIR 텔레센트릭 렌즈 시리즈 | 1.1" InGaAs 센서용 950–1800nm

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FAQ

Q: What sensors are the TLSW Series lenses designed for?
A: The TLSW Series is optimized for 1.1" InGaAs sensors, including the Sony IMX990, providing high-performance SWIR imaging from 950–1800 nm.

Q: What spectral range do these lenses support?
A: The lenses are specially designed for 950–1800 nm SWIR transmission, enabling imaging beyond the visible spectrum.

Q: What magnification options are available?
A: The series offers 0.5×, 0.7×, 1×, 2×, and 4× magnifications to meet different field-of-view and precision measurement requirements.

Q: Are both coaxial and non-coaxial versions available?
A: Yes. The 1× and 2× models are available in both coaxial and non-coaxial configurations for flexible illumination setups.

Q: Can the depth of field be adjusted?
A: Yes. The 1× and 2× models feature adjustable iris control, allowing users to optimize depth of field for specific applications.

Q: What applications are these SWIR telecentric lenses suitable for?
A: They are ideal for semiconductor inspection, wafer analysis, solar cell inspection, precision metrology, material identification, and scientific imaging.

Q: Why use SWIR telecentric lenses instead of visible-light optics?
A: SWIR telecentric lenses can reveal material differences and defects invisible to visible-light systems, while maintaining low distortion and high measurement accuracy.

제품 설명

TLSW 시리즈 SWIR 정심 렌즈는 Sony IMX990을 포함한 1.1" InGaAs 센서에 최적화되어 950–1800 nm 스펙트럼 범위에서 고정밀 영상화를 제공합니다. 0.5×, 0.7×, 1×, 2×, 4× 배율로 제공되는 이 렌즈들은 가시광 시스템에서는 볼 수 없는 재료의 차이와 결함을 드러냅니다.

머신 비전과 정밀 계측을 위해 설계된 TLSW 시리즈는 초저 왜곡, 고해상도, 그리고 동축 및 비동축 구성을 제공합니다. 1× 및 2× 모델은 유연한 심도 최적화를 위해 조절 가능한 아이리스 제어를 갖추고 있습니다. SWIR 카메라 및 C-Mount 시스템과 호환되는 이 렌즈들은 반도체 검사, 웨이퍼 분석, 태양전지 검사 및 과학 영상화 응용 분야에 이상적입니다.

주요 특징

  • Sony IMX990 및 1.1" InGaAs 센서에 최적화
  • 950–1800 nm SWIR 전송
  • 0.5×에서 4×까지의 배율
  • 초저 왜곡 및 고해상도
  • 동축 및 비동축 버전 제공
  • 1× 및 2× 모델에 조절 가능한 아이리스
  • 쉬운 통합을 위한 C-Mount 인터페이스
  • 정밀 측정 및 SWIR 검사에 적합

주요 응용 분야

  • 반도체 및 웨이퍼 검사
  • 태양전지 및 광전지 분석
  • 정밀 계측
  • 전자 부품 검사
  • 재료 식별
  • SWIR 머신 비전
  • 과학 영상화 및 연구

사양

1.1" C-Mount 950-1800nm SWIR 정심 렌즈

모델 동축 배율 작업거리 F/# 심도
TLSW-0.5XD-H1.1 0.5× 116.4mm 6.3 2.02mm
TLSW-0.7XD-H1.1 0.7× 116.0mm 6.4 1.05mm
TLSW-1.0XD-H1.1 1.0× 110.0mm 7.0 0.56mm
TLSW-1.0X-H1.1 아니오 1.0× 110.0mm 7.0 0.56mm
TLSW-2.0XD-H1.1 2.0× 110.2mm 11.5 0.23mm
TLSW-2.0X-H1.1 아니오 2.0× 110.2mm 11.5 0.23mm
TLSW-4.0XD-H1.1 4.0× 110.3mm 20.0 0.10mm

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