TLSW-H1.1 SWIR 텔레센트릭 렌즈 시리즈 | 1.1" InGaAs 센서용 950–1800nm
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TLSW-H1.1 SWIR 텔레센트릭 렌즈 시리즈 | 1.1" InGaAs 센서용 950–1800nm - 0.5x f6.3 Coaxial ist auf Lager und wird versandt, sobald es wieder verfügbar ist
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FAQ
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TLSW-H1.1 SWIR 텔레센트릭 렌즈 시리즈 | 1.1" InGaAs 센서용 950–1800nm - 0.5x f6.3 Coaxial ist auf Lager und wird versandt, sobald es wieder verfügbar ist
제품 설명
TLSW 시리즈 SWIR 정심 렌즈는 Sony IMX990을 포함한 1.1" InGaAs 센서에 최적화되어 950–1800 nm 스펙트럼 범위에서 고정밀 영상화를 제공합니다. 0.5×, 0.7×, 1×, 2×, 4× 배율로 제공되는 이 렌즈들은 가시광 시스템에서는 볼 수 없는 재료의 차이와 결함을 드러냅니다.
머신 비전과 정밀 계측을 위해 설계된 TLSW 시리즈는 초저 왜곡, 고해상도, 그리고 동축 및 비동축 구성을 제공합니다. 1× 및 2× 모델은 유연한 심도 최적화를 위해 조절 가능한 아이리스 제어를 갖추고 있습니다. SWIR 카메라 및 C-Mount 시스템과 호환되는 이 렌즈들은 반도체 검사, 웨이퍼 분석, 태양전지 검사 및 과학 영상화 응용 분야에 이상적입니다.
주요 특징
- Sony IMX990 및 1.1" InGaAs 센서에 최적화
- 950–1800 nm SWIR 전송
- 0.5×에서 4×까지의 배율
- 초저 왜곡 및 고해상도
- 동축 및 비동축 버전 제공
- 1× 및 2× 모델에 조절 가능한 아이리스
- 쉬운 통합을 위한 C-Mount 인터페이스
- 정밀 측정 및 SWIR 검사에 적합
주요 응용 분야
- 반도체 및 웨이퍼 검사
- 태양전지 및 광전지 분석
- 정밀 계측
- 전자 부품 검사
- 재료 식별
- SWIR 머신 비전
- 과학 영상화 및 연구
사양
1.1" C-Mount 950-1800nm SWIR 정심 렌즈
| 모델 | 동축 | 배율 | 작업거리 | F/# | 심도 |
|---|---|---|---|---|---|
| TLSW-0.5XD-H1.1 | 예 | 0.5× | 116.4mm | 6.3 | 2.02mm |
| TLSW-0.7XD-H1.1 | 예 | 0.7× | 116.0mm | 6.4 | 1.05mm |
| TLSW-1.0XD-H1.1 | 예 | 1.0× | 110.0mm | 7.0 | 0.56mm |
| TLSW-1.0X-H1.1 | 아니오 | 1.0× | 110.0mm | 7.0 | 0.56mm |
| TLSW-2.0XD-H1.1 | 예 | 2.0× | 110.2mm | 11.5 | 0.23mm |
| TLSW-2.0X-H1.1 | 아니오 | 2.0× | 110.2mm | 11.5 | 0.23mm |
| TLSW-4.0XD-H1.1 | 예 | 4.0× | 110.3mm | 20.0 | 0.10mm |
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