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Vision Datum  |  SKU: VT-LEM10021SW-H2-C

100mm 200mm 手動望遠 SWIR レンズ

定価 $2,090.00
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相机镜头类型
Technische Daten
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FAQ

Q1: What wavelength range does this lens support?
A: It supports 400–1700nm SWIR imaging, covering visible extended infrared to shortwave infrared applications.

Q2: What sensor size is compatible?
A: The lens is designed for 1-inch (25.6mm) SWIR sensors, commonly used in industrial and scientific cameras.

Q3: What focal lengths are available?
A: The series includes 100mm, 200mm, 300mm, and 400mm telephoto options for flexible magnification.

Q4: Is this a fixed or zoom lens?
A: It is a manual focus fixed focal length lens, with adjustable aperture for imaging optimization.

Q5: What interfaces does it support?
A: It supports C-Mount and M42 mounts, making it compatible with most SWIR machine vision systems.

Q6: What industries use this lens?
A: It is widely used in semiconductor inspection, material analysis, remote sensing, and industrial machine vision.

製品説明 

SWIR望遠レンズシリーズ(100–400mm)は、400–1700nmの短波長赤外領域における高性能イメージング用に設計されています。1インチセンサーに対応し、長距離および精密検査タスクにおいて安定した高コントラストのイメージングを実現します。

複数の焦点距離オプション(100mm、200mm、300mm、400mm)により、レンズは産業用および科学用途向けの柔軟な倍率を提供します。マニュアルフォーカスと可変絞り設計により、異なる作業距離や環境に対する精密な光学調整が可能です。

CマウントおよびM42インターフェースに対応しており、このレンズは半導体検査、材料分析、リモートセンシングにおけるSWIRマシンビジョンシステムで広く使用されています。

主な特徴

  • SWIR範囲: 400–1700nm
  • 1インチセンサーフォーマットに対応
  • 焦点距離: 100 / 200 / 300 / 400mm
  • 可変絞り付きマニュアルフォーカス
  • Cマウント / M42 対応
  • 長距離イメージング機能
  • 高コントラストSWIRイメージング
  • 産業グレードの光学設計

主なアプリケーション

  • 半導体検査
  • 材料及びウェハ分析
  • 産業用欠陥検出
  • 長距離SWIRイメージング
  • 科学研究
  • リモートセンシングシステム
  • 宇宙航空検査

仕様

モデル EFL
F#
波長
VT-LEM10021SW-H2
100mm
F2.1
800-1700nm
VT-LEM20040SW-H1
200mm
F4-22
900-1700nm
VT-LEM30040SW-H1
300mm
F4-22
400-1700nm
VT-LEM40056SW-H1
400mm
F5.6
900-1700nm

 

 

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