Obiettivi bi-telecentrici BTL-H1 Series 1" C-Mount per la misurazione di componenti
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Obiettivi bi-telecentrici BTL-H1 Series 1" C-Mount per la misurazione di componenti - [WD]73mm [FOV]26Φmm [Mag.]0.638x ...è stato ordinato al fornitore e verrà spedito non appena sarà di nuovo disponibile.
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FAQ
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Obiettivi bi-telecentrici BTL-H1 Series 1" C-Mount per la misurazione di componenti - [WD]73mm [FOV]26Φmm [Mag.]0.638x ...è stato ordinato al fornitore e verrà spedito non appena sarà di nuovo disponibile.

Descrizione del prodotto
Le lenti telecentriche della serie BTL-H1 sono soluzioni ottiche ad alte prestazioni progettate per applicazioni di machine vision di grande formato e metrologia di precisione. Progettate per sensori da 1" (Φ16.6 mm), questa serie offre distorsione ultra-bassa, ingrandimento stabile e imaging ad alta risoluzione su un'ampia gamma di distanze operative da 73 mm a 465 mm.
Con opzioni di ingrandimento da 0.638× a 0.055×, la serie BTL-H1 supporta sistemi di ispezione con campo visivo medio e ultra-ampio. Il suo avanzato design telecentrico garantisce una distorsione estremamente bassa (<0.1%) e un'elevata prestazione di telecentricità, rendendolo ideale per la misurazione dimensionale ad alta accuratezza e l'ispezione industriale.
Progettata per ambienti esigenti, la serie BTL-H1 raggiunge un'eccellente prestazione di risoluzione (MTF30 fino a 145 lp/mm) e supporta lunghe distanze operative per configurazioni di ispezione su larga scala. La robusta struttura meccanica C-Mount garantisce un'integrazione facile in linee di produzione automatizzate e sistemi di machine vision di fascia alta.
Caratteristiche principali
- Supporta sensori di grande formato da 1" (Φ16.6 mm)
- Ampio intervallo di ingrandimento: 0.055× – 0.638×
- Intervallo di distanza operativa: 73 mm – 465 mm
- Distorsione ultra-bassa: <0.1%
- Alta prestazione di risoluzione: MTF30 fino a 145 lp/mm
- Alta telecentricità per la misurazione di precisione
- Opzioni di lunga distanza operativa per sistemi con ampio FOV
- Robusto design industriale C-Mount
- Adatto per sistemi di automazione e metrologia di fascia alta
Principali applicazioni
- Ispezione di wafer di semiconduttori
- Misurazione dimensionale di precisione
- Ispezione di pannelli LCD / OLED
- Ispezione di PCB ed elettronica
- Metrologia industriale su larga scala
- Ispezione ottica automatizzata (AOI)
- Ispezione di batterie e componenti energetici
- Sistemi di machine vision ad alta accuratezza
Specifiche
| Modello | FOV | Ing. | WD (mm) | MTF30 (lp/mm) |
|---|---|---|---|---|
| BTL-0.638X-73-H1 | Φ26mm | 0.638x | 73±1 | >90 |
| BTL-0.46X-110-H1 | Φ36mm | 0.46x | 110±2 | >100 |
| BTL-0.395X-118-H1 | Φ42mm | 0.395x | 118±3 | >130 |
| BTL-0.346X-128-H1 | Φ48mm | 0.346x | 128±3 | >130 |
| BTL-0.346X-138-H1 (LM) | Φ48mm | 0.346x | 138±3 | >90 |
| BTL-0.296X-138-H1 (LM) | Φ56mm | 0.296x | 138±3 | >130 |
| BTL-0.259X-158-H1 (LM) | Φ64mm | 0.259x | 158±3 | >130 |
| BTL-0.231X-178-H1 (LM) | Φ72mm | 0.231x | 178±3 | >135 |
| BTL-0.208X-228-H1 (LM) | Φ80mm | 0.208x | 228±4 | >135 |
| BTL-0.184X-208-H1 (LM) | Φ90mm | 0.184x | 208±3 | >135 |
| BTL-0.166X-238-H1 (LM) | Φ100mm | 0.166x | 238±4 | >140 |
| BTL-0.151X-263-H1 (LM) | Φ110mm | 0.151x | 263±4 | >140 |
| BTL-0.138X-273-H1 (LM) | Φ120mm | 0.138x | 273±5 | >140 |
| BTL-0.122X-288-H1 (LM) | Φ136mm | 0.122x | 288±5 | >140 |
| BTL-0.111X-300-H1 (LM) | Φ150mm | 0.111x | 300±5 | >145 |
| BTL-0.098X-318-H1 (LM) | Φ170mm | 0.098x | 318±5 | >140 |
| BTL-0.087X-330-H1 (LM) | Φ190mm | 0.087x | 330±5 | >140 |
| BTL-0.077X-372-H1 (LM) | Φ216mm | 0.077x | 372±5 | >140 |
| BTL-0.069XH-410-H1 (LM) | Φ240mm | 0.069x | 410±6 | >140 |
| BTL-0.064X-338-H1 (LM) | Φ258mm | 0.064x | 338±5 | >140 |
| BTL-0.055X-465-H1 (LM) | Φ300mm | 0.055x | 465±6 | >135 |
Nota 1: La distanza focale posteriore dei modelli con (LM) è regolabile.
Nota 2: Suggerimenti: Il DOF sopra riportato è solo un valore teorico alla apertura ideale (es. ±763@F11). Per il DOF effettivo o il DOF di cui avete bisogno, vi preghiamo di consultare il nostro ingegnere commerciale prima della conferma dell'ordine.

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