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Vision Datum  |  SKU: VT-LEM10021SW-H2-C

Obiettivo teleobiettivo SWIR manuale 100mm 200mm

Prezzo normale $2,090.00
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Tipo di obiettivo fotocamera
Lunghezza focale
Montaggio

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FAQ

Q1: What wavelength range does this lens support?
A: It supports 400–1700nm SWIR imaging, covering visible extended infrared to shortwave infrared applications.

Q2: What sensor size is compatible?
A: The lens is designed for 1-inch (25.6mm) SWIR sensors, commonly used in industrial and scientific cameras.

Q3: What focal lengths are available?
A: The series includes 100mm, 200mm, 300mm, and 400mm telephoto options for flexible magnification.

Q4: Is this a fixed or zoom lens?
A: It is a manual focus fixed focal length lens, with adjustable aperture for imaging optimization.

Q5: What interfaces does it support?
A: It supports C-Mount and M42 mounts, making it compatible with most SWIR machine vision systems.

Q6: What industries use this lens?
A: It is widely used in semiconductor inspection, material analysis, remote sensing, and industrial machine vision.

Descrizione del prodotto 

La serie di obiettivi tele SWIR (100–400mm) è progettata per l'imaging ad alte prestazioni nell'intervallo infrarosso a onde corte da 400 a 1700nm. Supporta sensori da 1 pollice e offre un imaging stabile e ad alto contrasto per compiti di ispezione a lunga distanza e di precisione.

Con diverse opzioni di lunghezza focale (100mm, 200mm, 300mm, 400mm), l'obiettivo fornisce un ingrandimento flessibile per applicazioni industriali e scientifiche. Il suo design con messa a fuoco manuale e apertura regolabile consente una regolazione ottica precisa per diverse distanze di lavoro e ambienti.

Compatibile con interfacce C-Mount e M42, questo obiettivo è ampiamente utilizzato nei sistemi di visione macchina SWIR per l'ispezione dei semiconduttori, l'analisi dei materiali e il telerilevamento.

Caratteristiche principali

  • Intervallo SWIR: 400–1700nm
  • Supporta formato sensore da 1"
  • Lunghezze focali: 100 / 200 / 300 / 400mm
  • Messa a fuoco manuale con apertura regolabile
  • Compatibile con C-Mount / M42
  • Capacità di imaging a lunga distanza
  • Imaging SWIR ad alto contrasto
  • Design ottico di grado industriale

Principali applicazioni

  • Ispezione dei semiconduttori
  • Analisi di materiali e wafer
  • Rilevamento di difetti industriali
  • Imaging SWIR a lungo raggio
  • Ricerca scientifica
  • Sistemi di telerilevamento
  • Ispezione aerospaziale

Specifiche

Modello EFL
F#
Lunghezza d'onda
VT-LEM10021SW-H2
100mm
F2.1
800-1700nm
VT-LEM20040SW-H1
200mm
F4-22
900-1700nm
VT-LEM30040SW-H1
300mm
F4-22
400-1700nm
VT-LEM40056SW-H1
400mm
F5.6
900-1700nm

 

 

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