Objectif télécentrique Visible-SWIR 400–1200 nm | Correction de décalage de mise au point TLVS-H1.1
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Objectif télécentrique Visible-SWIR 400–1200 nm | Correction de décalage de mise au point TLVS-H1.1 - 0.7x WD: 110mm / Coaxial est en rupture de stock et sera expédié dès qu’il sera de retour en stock.
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Objectif télécentrique Visible-SWIR 400–1200 nm | Correction de déc...
Objectif télécentrique Visible-SWIR 400–1200 nm | Correction de décalage de mise au point TLVS-H1.1 - 0.7x WD: 110mm / Coaxial est en rupture de stock et sera expédié dès qu’il sera de retour en stock.
Description du produit
La série d'objectifs télécentriques Visible-SWIR est conçue pour l'imagerie de haute précision sur une large plage spectrale allant de 400 à 1200 nm, permettant une imagerie fluide de la lumière visible au SWIR sans refocalisation. Grâce à une correction avancée du décalage de mise au point, ces objectifs maintiennent des images nettes sur différentes longueurs d'onde, ce qui les rend idéaux pour les applications nécessitant à la fois l'imagerie visible et proche infrarouge.
Disponible en grossissements de 0,7×, 1×, 2× et 4×, la série prend en charge des cercles d'image jusqu'à Φ24 mm et offre des configurations d'éclairage coaxial et non coaxial. En éliminant les décalages focaux entre les longueurs d'onde visibles et SWIR, ces objectifs télécentriques révèlent les différences de matériaux et les défauts difficiles ou impossibles à détecter avec la lumière visible seule.
Conçue pour la vision par ordinateur, l'inspection des semi-conducteurs, l'analyse des cellules solaires et l'imagerie scientifique, la série d'objectifs télécentriques Visible-SWIR fournit une imagerie fiable et sans distorsion pour les applications industrielles exigeantes.
Caractéristiques clés
- Large plage spectrale : 400–1200 nm
- Correction du décalage de mise au point du visible au SWIR
- Aucune refocalisation requise entre l'imagerie visible et SWIR
- Options de grossissement : 0,7×, 1×, 2×, 4×
- Cercle d'image jusqu'à Φ24 mm
- Versions d'éclairage coaxial et non coaxial disponibles
- Optiques télécentriques à fort contraste et faible distorsion
- Convient à l'imagerie industrielle et scientifique
Applications principales
- Inspection des semi-conducteurs
- Inspection des cellules solaires et des wafers
- Identification des matériaux
- Inspection des affichages et du verre
- Inspection des PCB et de l'électronique
- Mesure de précision et métrologie
- Imagerie scientifique et de laboratoire
- Détection des défauts au-delà des longueurs d'onde visibles
Spécifications
| Modèle | Gross. | WD | Cercle d'image | Coaxial |
|---|---|---|---|---|
| TLVS-0.7XD-H1.1 | 0.7X | 110 mm | Φ20.5 mm | Oui |
| TLVS-0.7X-H1.1 | 0.7X | 110 mm | Φ20.5 mm | Non |
| TLVS-1.0XD-H1.1 | 1.0X | 110 mm | Φ24 mm | Oui |
| TLVS-1.0X-H1.1 | 1.0X | 110 mm | Φ24 mm | Non |
| TLVS-2.0XD-H1.1 | 2.0X | 110 mm | Φ24 mm | Oui |
| TLVS-2.0X-H1.1 | 2.0X | 110 mm | Φ24 mm | Non |
| TLVS-4.0XD-H1.1 | 4.0X | 110 mm | Φ20.5 mm | Oui |
| TLVS-4.0X-H1.1 | 4.0X | 110 mm | Φ20.5 mm | Non |
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