TLSW-H1.1 SWIR Telezentrische Objektivserie | 950–1800nm für 1.1" InGaAs-Sensoren

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Alle unsere Produkte werden auf Bestellung hergestellt oder spezifisch basierend auf Ihrem Kauf vorbereitet. Wir bitten die Kunden höflich, ihre Bedürfnisse vor der Bestellung zu bestätigen. Wenn Sie vor der Bestellung Unterstützung oder weitere Klärung benötigen, wenden Sie sich gerne an uns – wir helfen Ihnen gerne!

Q: What sensors are the TLSW Series lenses designed for?
A: The TLSW Series is optimized for 1.1" InGaAs sensors, including the Sony IMX990, providing high-performance SWIR imaging from 950–1800 nm.

Q: What spectral range do these lenses support?
A: The lenses are specially designed for 950–1800 nm SWIR transmission, enabling imaging beyond the visible spectrum.

Q: What magnification options are available?
A: The series offers 0.5×, 0.7×, 1×, 2×, and 4× magnifications to meet different field-of-view and precision measurement requirements.

Q: Are both coaxial and non-coaxial versions available?
A: Yes. The 1× and 2× models are available in both coaxial and non-coaxial configurations for flexible illumination setups.

Q: Can the depth of field be adjusted?
A: Yes. The 1× and 2× models feature adjustable iris control, allowing users to optimize depth of field for specific applications.

Q: What applications are these SWIR telecentric lenses suitable for?
A: They are ideal for semiconductor inspection, wafer analysis, solar cell inspection, precision metrology, material identification, and scientific imaging.

Q: Why use SWIR telecentric lenses instead of visible-light optics?
A: SWIR telecentric lenses can reveal material differences and defects invisible to visible-light systems, while maintaining low distortion and high measurement accuracy.