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Vision Datum  |  SKU: iBX-SWG991A

640×512 257.8fps GigE Vision SWIR-Kamera 400–1700nm | Sony IMX991 mit Kühlung iBX-SWG991A/J

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FAQ

Q: What is the spectral range of IMX991?
A: The Sony IMX991 sensor offers a spectral response range of 400nm to 1700nm, covering both the visible and short-wave infrared (SWIR) spectrum. This wide range enables imaging applications such as semiconductor inspection, silicon wafer analysis, spectroscopy, material sorting, and machine vision.

Q: Which sensor does this camera use?
A: This camera is equipped with the Sony IMX991 InGaAs sensor, featuring a resolution of 640 × 512 pixels and a 5μm pixel size. The sensor delivers high sensitivity, low noise performance, and excellent image quality across the 400–1700nm wavelength range.

Q: Can SWIR cameras see through silicon?
A: Yes. SWIR cameras can image through silicon because silicon becomes increasingly transparent at wavelengths above approximately 1100nm. This capability allows SWIR cameras to reveal internal structures, defects, and packaging features that are not visible with standard visible-light cameras, making them ideal for semiconductor inspection and failure analysis.

Q: What is a SWIR camera used for?
A: SWIR cameras are used in a wide range of industrial and scientific applications, including semiconductor inspection, machine vision, spectroscopy, solar cell inspection, laser beam analysis, defense imaging, agricultural monitoring, and quality control. Their ability to capture information beyond the visible spectrum makes them valuable for detecting features that conventional cameras cannot see.

Q: Why use TEC cooling in a SWIR camera?
A: TEC (Thermoelectric Cooling) helps reduce sensor noise and improve image stability by maintaining a controlled detector temperature. This is especially beneficial for long exposure imaging, low-light environments, and precision measurement applications where image quality and consistency are critical.

Q: How do I integrate a SWIR camera into a machine vision system?
A: SWIR cameras can be integrated into machine vision systems through standard industrial interfaces such as USB3.0 or GigE Vision. They can be connected to industrial PCs, image processing software, frame grabbers, and automation platforms. Depending on the application, the camera can be combined with SWIR lenses, illumination sources, and machine vision software for inspection, measurement, and process monitoring tasks.

Q: What is the difference between USB3.0 and GigE SWIR cameras?
A: USB3.0 SWIR cameras provide high-speed data transfer and low latency, making them ideal for laboratory, R&D, and local image acquisition. GigE SWIR cameras support longer cable distances, multi-camera systems, and industrial network integration, making them well suited for factory automation and machine vision applications.

Q: What industries commonly use Sony IMX991 SWIR cameras?
A: Sony IMX991 SWIR cameras are widely used in semiconductor inspection, machine vision, scientific research, solar cell testing, electronics manufacturing, and defense applications. Their 400–1700nm spectral sensitivity enables imaging beyond the visible spectrum for advanced inspection and analysis tasks.

Produktbeschreibung

iBX-SWG991A/J GigE SWIR-Kamera mit Sony IMX991-Sensor

Die iBX-SWG991A/J GigE SWIR-Kamera ist eine leistungsfähige Kurzwellen-Infrarot-Bildgebungslösung, die für industrielle Automatisierung, Halbleiterinspektion, wissenschaftliche Forschung und Langstrecken-Machine-Vision-Systeme entwickelt wurde.

Basierend auf dem Sony IMX991 InGaAs-Sensor liefert diese Kamera zuverlässige SWIR-Bildgebung im Spektralbereich von 400–1700nm, mit einer Auflösung von 640 × 512 Pixeln und einer stabilen Bildwiederholrate von bis zu 257.8fps.

Im Gegensatz zu USB3.0-Modellen ist diese GigE Vision SWIR-Kamera für Langstreckentransmission, Multi-Kamera-Synchronisation und industrielle Netzwerkintegration optimiert, was sie ideal für verteilte Inspektionssysteme und Fabrikautomatisierungsumgebungen macht.

Um einen stabilen Betrieb unter anspruchsvollen Bedingungen zu gewährleisten, unterstützt die Kamera sowohl:

  • TEC-Kühlung (Thermoelektrische Kühlung) für geräuscharme Präzisionsbildgebung
  • Externe Kühlung Systemoption für Umgebungen mit hohen Temperaturen oder kontinuierlichem Betrieb

Hauptmerkmale

  • Sony IMX991 InGaAs SWIR-Sensor
  • Spektralantwortbereich 400–1700nm
  • Auflösung 640 × 512
  • Bildwiederholrate bis zu 257.8fps
  • Pixelgröße 5μm
  • GigE Vision-Schnittstelle (Industrienetzwerk-fähig)
  • TEC-Kühlung / Optionen für externe Kühlung
  • Bildgebung mit geringem Rauschen und hoher Stabilität
  • Entwickelt für Multi-Kamera-Industriesysteme

Anwendungen

  • Halbleiterwafer-Inspektion
  • Industrielle Machine-Vision-Systeme
  • Fabrikautomatisierung & Inline-Qualitätskontrolle
  • Wissenschaft & Laborbildgebung
  • Laserstrahl & Optische Analyse
  • Solarzellen-Inspektion
  • Verteidigung & Überwachungsbildgebung

Spezifikationen

Modell iBX-SWG991A/J
Sensor Sony IMX991
Sensortyp InGaAs SWIR-Sensor
Auflösung 640 × 512
Sensorgröße 1/4"
Pixelgröße 5μm × 5μm
Spektralbereich 400nm–1700nm
Bildwiederholrate 257.8fps
Schnittstelle GigE
Kühlmodus TEC-Kühlung / Externe Kühlung
Bildgebungstyp SWIR (Kurzwellen-Infrarot)
Anwendung Industrie, Wissenschaft, Halbleiter, Verteidigung

 

GigE vs USB3.0 Unterschied

Im Vergleich zu USB3.0 SWIR-Kameras bietet die GigE-Version:

  • Längere Kabelübertragungsstrecke
  • Bessere Eignung für industrielle Netzwerke
  • Einfachere Integration in verteilte Systeme
  • Stabilere Multi-Kamera-Synchronisation

USB3.0-Modelle konzentrieren sich eher auf die schnelle lokale Erfassung, während GigE-Modelle für den fabrikweiten Einsatz und die Systemintegration optimiert sind.

Sony IMX991 SWIR camera inspecting semiconductor wafers for defect detection and quality control

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