Lente Telecêntrica Visível-SWIR 400–1200 nm | Correção de Deslocamento de Foco TLVS-H1.1
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Lente Telecêntrica Visível-SWIR 400–1200 nm | Correção de Deslocamento de Foco TLVS-H1.1 - 0.7x WD: 110mm / Coaxial está esgotado e será enviado assim que estiver de novo em estoque.
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Lente Telecêntrica Visível-SWIR 400–1200 nm | Correção de Deslocame...
Lente Telecêntrica Visível-SWIR 400–1200 nm | Correção de Deslocamento de Foco TLVS-H1.1 - 0.7x WD: 110mm / Coaxial está esgotado e será enviado assim que estiver de novo em estoque.
Descrição do Produto
A Série de Lentes Telecêntricas Visível-SWIR foi concebida para imageamento de alta precisão numa ampla faixa espectral de 400–1200 nm, permitindo imageamento contínuo da luz visível ao SWIR sem necessidade de refocalização. Dotadas de correção avançada do desvio de foco, estas lentes mantêm imagens nítidas através de diferentes comprimentos de onda, tornando-as ideais para aplicações que exigem imageamento tanto na luz visível como no infravermelho próximo.
Disponível em ampliações de 0.7×, 1×, 2× e 4×, a série suporta círculos de imagem até Φ24 mm e oferece configurações de iluminação coaxial e não coaxial. Ao eliminar os desvios focais entre os comprimentos de onda visível e SWIR, estas lentes telecêntricas revelam diferenças de material e defeitos que são difíceis ou impossíveis de detetar apenas com luz visível.
Projetada para visão por máquina, inspeção de semicondutores, análise de células solares e imageamento científico, a Série de Lentes Telecêntricas Visível-SWIR fornece imageamento fiável e sem distorção para aplicações industriais exigentes.
Principais Características
- Ampla faixa espectral: 400–1200 nm
- Correção do desvio de foco da luz visível ao SWIR
- Sem necessidade de refocalização entre imageamento visível e SWIR
- Opções de ampliação: 0.7×, 1×, 2×, 4×
- Círculo de imagem até Φ24 mm
- Versões com iluminação coaxial e não coaxial disponíveis
- Ótica telecêntrica de alto contraste e baixa distorção
- Adequada para imageamento industrial e científico
Principais Aplicações
- Inspeção de semicondutores
- Inspeção de células solares e wafers
- Identificação de materiais
- Inspeção de ecrãs e vidro
- Inspeção de PCB e eletrónica
- Medição de precisão e metrologia
- Imageamento científico e de laboratório
- Detecção de defeitos além dos comprimentos de onda visíveis
Especificações
| Modelo | Ampl. | WD | Círculo de Imagem | Coaxial |
|---|---|---|---|---|
| TLVS-0.7XD-H1.1 | 0.7X | 110 mm | Φ20.5 mm | Sim |
| TLVS-0.7X-H1.1 | 0.7X | 110 mm | Φ20.5 mm | Não |
| TLVS-1.0XD-H1.1 | 1.0X | 110 mm | Φ24 mm | Sim |
| TLVS-1.0X-H1.1 | 1.0X | 110 mm | Φ24 mm | Não |
| TLVS-2.0XD-H1.1 | 2.0X | 110 mm | Φ24 mm | Sim |
| TLVS-2.0X-H1.1 | 2.0X | 110 mm | Φ24 mm | Não |
| TLVS-4.0XD-H1.1 | 4.0X | 110 mm | Φ20.5 mm | Sim |
| TLVS-4.0X-H1.1 | 4.0X | 110 mm | Φ20.5 mm | Não |
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