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Vision Datum  |  SKU: TLSW-0.5XD-H1.1

Série de Lentes Telecêntricas SWIR TLSW-H1.1 | 950–1800nm para Sensores InGaAs de 1.1"

Preço normal $6,600.00
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FAQ

Q: What sensors are the TLSW Series lenses designed for?
A: The TLSW Series is optimized for 1.1" InGaAs sensors, including the Sony IMX990, providing high-performance SWIR imaging from 950–1800 nm.

Q: What spectral range do these lenses support?
A: The lenses are specially designed for 950–1800 nm SWIR transmission, enabling imaging beyond the visible spectrum.

Q: What magnification options are available?
A: The series offers 0.5×, 0.7×, 1×, 2×, and 4× magnifications to meet different field-of-view and precision measurement requirements.

Q: Are both coaxial and non-coaxial versions available?
A: Yes. The 1× and 2× models are available in both coaxial and non-coaxial configurations for flexible illumination setups.

Q: Can the depth of field be adjusted?
A: Yes. The 1× and 2× models feature adjustable iris control, allowing users to optimize depth of field for specific applications.

Q: What applications are these SWIR telecentric lenses suitable for?
A: They are ideal for semiconductor inspection, wafer analysis, solar cell inspection, precision metrology, material identification, and scientific imaging.

Q: Why use SWIR telecentric lenses instead of visible-light optics?
A: SWIR telecentric lenses can reveal material differences and defects invisible to visible-light systems, while maintaining low distortion and high measurement accuracy.

Descrição do Produto

As Lentes Telecêntricas SWIR da Série TLSW são otimizadas para sensores InGaAs de 1.1", incluindo o Sony IMX990, proporcionando imagens de alta precisão em todo o intervalo espectral de 950–1800 nm. Disponíveis em ampliações de 0.5×, 0.7×, 1×, 2× e 4×, estas lentes revelam diferenças de material e defeitos invisíveis para sistemas de luz visível.

Projetadas para visão por máquina e metrologia de precisão, a Série TLSW oferece distorção ultrabaixa, alta resolução e configurações coaxiais e não coaxiais. Os modelos 1× e 2× possuem controle de íris ajustável para otimização flexível da profundidade de campo. Compatíveis com câmeras SWIR e sistemas C-Mount, estas lentes são ideais para inspeção de semicondutores, análise de wafers, inspeção de células solares e aplicações de imagem científica.

Principais Características

  • Otimizado para sensores Sony IMX990 e InGaAs de 1.1"
  • Transmissão SWIR de 950–1800 nm
  • Ampliações de 0.5× a 4×
  • Distorção ultrabaixa e alta resolução
  • Versões coaxiais e não coaxiais disponíveis
  • Íris ajustável nos modelos 1× e 2×
  • Interface C-Mount para fácil integração
  • Adequado para medição de precisão e inspeção SWIR

Principais Aplicações

  • Inspeção de semicondutores e wafers
  • Análise de células solares e fotovoltaica
  • Metrologia de precisão
  • Inspeção de eletrónica
  • Identificação de materiais
  • Visão por máquina SWIR
  • Imagem científica e investigação

Especificações

Lente Telecêntrica SWIR C-Mount 1.1" 950-1800nm

Modelo Coaxial Ampl. WD F/# DOF
TLSW-0.5XD-H1.1 Sim 0.5× 116.4mm 6.3 2.02mm
TLSW-0.7XD-H1.1 Sim 0.7× 116.0mm 6.4 1.05mm
TLSW-1.0XD-H1.1 Sim 1.0× 110.0mm 7.0 0.56mm
TLSW-1.0X-H1.1 Não 1.0× 110.0mm 7.0 0.56mm
TLSW-2.0XD-H1.1 Sim 2.0× 110.2mm 11.5 0.23mm
TLSW-2.0X-H1.1 Não 2.0× 110.2mm 11.5 0.23mm
TLSW-4.0XD-H1.1 Sim 4.0× 110.3mm 20.0 0.10mm

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