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Vision Datum  |  SKU: VT-LEM10021SW-H2-C

Lente SWIR Telefoto Manual 100mm 200mm

Preço normal $2,090.00
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Tipo de Lente da Câmera
Distância focal
Baioneta

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FAQ

Q1: What wavelength range does this lens support?
A: It supports 400–1700nm SWIR imaging, covering visible extended infrared to shortwave infrared applications.

Q2: What sensor size is compatible?
A: The lens is designed for 1-inch (25.6mm) SWIR sensors, commonly used in industrial and scientific cameras.

Q3: What focal lengths are available?
A: The series includes 100mm, 200mm, 300mm, and 400mm telephoto options for flexible magnification.

Q4: Is this a fixed or zoom lens?
A: It is a manual focus fixed focal length lens, with adjustable aperture for imaging optimization.

Q5: What interfaces does it support?
A: It supports C-Mount and M42 mounts, making it compatible with most SWIR machine vision systems.

Q6: What industries use this lens?
A: It is widely used in semiconductor inspection, material analysis, remote sensing, and industrial machine vision.

Descrição do Produto 

A Série de Lentes Teleobjetivas SWIR (100–400mm) é projetada para imageamento de alto desempenho na faixa de infravermelho de curta onda de 400–1700nm. Suporta sensores de 1 polegada e oferece imageamento estável e de alto contraste para tarefas de inspeção de longa distância e precisão.

Com múltiplas opções de distância focal (100mm, 200mm, 300mm, 400mm), a lente fornece ampliação flexível para aplicações industriais e científicas. Seu foco manual e design de abertura ajustável permitem ajuste óptico preciso para diferentes distâncias de trabalho e ambientes.

Compatível com interfaces C-Mount e M42, esta lente é amplamente utilizada em sistemas de visão computacional SWIR para inspeção de semicondutores, análise de materiais e sensoriamento remoto.

Principais Características

  • Faixa SWIR: 400–1700nm
  • Suporta formato de sensor de 1"
  • Distâncias focais: 100 / 200 / 300 / 400mm
  • Foco manual com abertura ajustável
  • Compatível com C-Mount / M42
  • Capacidade de imageamento de longa distância
  • Imageamento SWIR de alto contraste
  • Design óptico de grau industrial

Principais Aplicações

  • Inspeção de semicondutores
  • Análise de materiais e wafers
  • Detecção de defeitos industriais
  • Imageamento SWIR de longo alcance
  • Pesquisa científica
  • Sistemas de sensoriamento remoto
  • Inspeção aeroespacial

Especificações

Modelo EFL
F#
Comprimento de Onda
VT-LEM10021SW-H2
100mm
F2.1
800-1700nm
VT-LEM20040SW-H1
200mm
F4-22
900-1700nm
VT-LEM30040SW-H1
300mm
F4-22
400-1700nm
VT-LEM40056SW-H1
400mm
F5.6
900-1700nm

 

 

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