OEM SWIRライト – ライン、リング、バックライト & コアキシャル照明 産業・科学イメージング用

Описание продукта — OEM ИК-источник света КВ-диапазона

OEM-источник света SWIR (модуль коротковолнового инфракрасного излучения) — это высокопроизводительный источник невидимого света, разработанный для систем SWIR-визуализации, работающий в спектральном диапазоне 1000–1700 нм. Полностью совместимый с датчиками InGaAs и SWIR CMOS, он расширяет возможности машинного зрения за пределы видимого и ближнего инфракрасного света, выявляя характеристики материалов и внутренние детали, которые в противном случае были бы невидимы.

Коротковолновое ИК-излучение (SWIR) обладает уникальными преимуществами в проникновении в материалы, чувствительности к влаге и спектральной дифференциации, что делает его незаменимым компонентом для передовой промышленной инспекции, автоматизации и научных изображений. OEM-дизайн поддерживает гибкую настройку, обеспечивая высокую оптическую стабильность, низкий температурный дрейф и равномерное освещение в сложных условиях эксплуатации.

Наши модули SWIR-освещения поддерживают OEM-настройку и доступны в нескольких типах промышленного освещения: линейный свет, линейная подсветка, кольцевая подсветка, задняя подсветка, коаксиальный свет и другие. Идеально подходит для инспекции полупроводников и солнечных элементов, анализа продуктов питания и сельского хозяйства, машинного зрения и научных изображений, он обеспечивает равномерное, стабильное освещение с низким уровнем шума и высокой надежностью.

Ключевые особенности

• Работает в коротковолновом инфракрасном (SWIR) спектре
• Улучшает контраст на основе состава материала и поглощения влаги
• Уменьшенное рассеяние в тумане, пыли, дыму и дымке по сравнению с видимым светом
• Позволяет визуализировать объекты, невидимые для видимого и ближнего ИК-изображения
• Стабильный выход для точной визуализации и анализа
• Компактный OEM-дизайн для простой интеграции в пользовательские системы
• Совместим с SWIR-камерами и системами визуализации на основе InGaAs-сенсоров

Типовые применения

• Промышленная инспекция
  Обнаружение подповерхностных дефектов, покрытий, адгезивов и неоднородностей материалов.
• Производство полупроводников и электроники
  Инспекция пластин, упаковки и процессов соединения, требующих невидимого контраста.
• Сельскохозяйственная и пищевая инспекция
  Анализ содержания влаги, состояния урожая и внутреннего качества продукта.
• Безопасность и наблюдение
  Улучшение видимости в условиях низкой освещенности или затенения без тепловизионной съемки.

• Научные исследования и спектральная визуализация
  Поддержка анализа на основе отражения, спектроскопии и лабораторной визуализации.

💡 Почему SWIR-освещение?

SWIR-свет устраняет разрыв между видимым изображением и тепловизионным изображением. Он сочетает в себе высокое пространственное разрешение, контрастность, специфичную для материала, и экологическую устойчивость, позволяя системам машинного зрения видеть за пределами человеческого зрения, сохраняя при этом мелкие детали изображения.