400–1200 nm 可視-SWIR テレセントリックレンズ | フォカスシフト補正 TLVS-H1.1
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400–1200 nm 可視-SWIR テレセントリックレンズ | フォカスシフト補正 TLVS-H1.1
400–1200 nm 可視-SWIR テレセントリックレンズ | フォカスシフト補正 TLVS-H1.1 - 0.7x WD: 110mm / 同軸 ...は取り寄せ中で入荷次第発送します。
製品説明
可視光-SWIRテレセントリックレンズシリーズは、400–1200 nmの広いスペクトル範囲での高精度イメージングのために設計されており、再フォーカスなしで可視光からSWIRまでのシームレスなイメージングを実現します。先進的なフォーカスシフト補正機能を備え、波長をまたいでシャープな画像を維持するため、可視光と近赤外線の両方のイメージングを必要とするアプリケーションに最適です。
0.7×、1×、2×、4×の倍率で利用可能で、最大Φ24 mmの画像円をサポートし、同軸および非同軸の照明構成を提供します。可視光とSWIR波長間の焦点シフトを排除することで、これらのテレセントリックレンズは、可視光だけでは検出が困難または不可能な材料の違いや欠陥を明らかにします。
機械ビジョン、半導体検査、太陽電池分析、科学イメージング用に設計された可視光-SWIRテレセントリックレンズシリーズは、要求の厳しい産業アプリケーション向けに信頼性が高く、歪みのないイメージングを提供します。
主な特徴
- 広いスペクトル範囲: 400–1200 nm
- 可視光からSWIRまでのフォーカスシフト補正
- 可視光とSWIRイメージング間の再フォーカス不要
- 倍率オプション: 0.7×、1×、2×、4×
- 画像円最大Φ24 mm
- 同軸および非同軸照明バージョンが利用可能
- 高コントラスト、低歪みのテレセントリック光学系
- 産業用および科学用イメージングに適している
主なアプリケーション
- 半導体検査
- 太陽電池およびウェハ検査
- 材料識別
- ディスプレイおよびガラス検査
- PCBおよび電子機器検査
- 精密測定およびメトロロジー
- 科学および実験室イメージング
- 可視光波長を超える欠陥検出
仕様
| モデル | 倍率 | 作業距離 | 画像円 | 同軸 |
|---|---|---|---|---|
| TLVS-0.7XD-H1.1 | 0.7X | 110 mm | Φ20.5 mm | はい |
| TLVS-0.7X-H1.1 | 0.7X | 110 mm | Φ20.5 mm | いいえ |
| TLVS-1.0XD-H1.1 | 1.0X | 110 mm | Φ24 mm | はい |
| TLVS-1.0X-H1.1 | 1.0X | 110 mm | Φ24 mm | いいえ |
| TLVS-2.0XD-H1.1 | 2.0X | 110 mm | Φ24 mm | はい |
| TLVS-2.0X-H1.1 | 2.0X | 110 mm | Φ24 mm | いいえ |
| TLVS-4.0XD-H1.1 | 4.0X | 110 mm | Φ20.5 mm | はい |
| TLVS-4.0X-H1.1 | 4.0X | 110 mm | Φ20.5 mm | いいえ |
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