Obiettivo telecentrico 400–1200 nm Visible-SWIR | Correzione dello spostamento di messa a fuoco TLVS-H1.1
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Obiettivo telecentrico 400–1200 nm Visible-SWIR | Correzione dello spostamento di messa a fuoco TLVS-H1.1 - 0.7x WD: 110mm / Coassiale ...è stato ordinato al fornitore e verrà spedito non appena sarà di nuovo disponibile.
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Obiettivo telecentrico 400–1200 nm Visible-SWIR | Correzione dello ...
Obiettivo telecentrico 400–1200 nm Visible-SWIR | Correzione dello spostamento di messa a fuoco TLVS-H1.1 - 0.7x WD: 110mm / Coassiale ...è stato ordinato al fornitore e verrà spedito non appena sarà di nuovo disponibile.
Descrizione del prodotto
La serie di obiettivi telecentrici Visible-SWIR è progettata per l'acquisizione di immagini ad alta precisione su un ampio intervallo spettrale da 400–1200 nm, consentendo un'acquisizione di immagini senza interruzioni dalla luce visibile al SWIR senza rifocalizzazione. Grazie alla correzione avanzata dello spostamento di messa a fuoco, questi obiettivi mantengono immagini nitide attraverso le lunghezze d'onda, rendendoli ideali per applicazioni che richiedono sia l'acquisizione di immagini nella luce visibile che nel vicino infrarosso.
Disponibile con ingrandimenti 0.7×, 1×, 2× e 4×, la serie supporta cerchi immagine fino a Φ24 mm e offre configurazioni di illuminazione sia coassiale che non coassiale. Eliminando gli spostamenti focali tra le lunghezze d'onda visibili e SWIR, questi obiettivi telecentrici rivelano differenze nei materiali e difetti difficili o impossibili da rilevare con la sola luce visibile.
Progettata per la visione artificiale, l'ispezione dei semiconduttori, l'analisi delle celle solari e l'acquisizione di immagini scientifiche, la serie di obiettivi telecentrici Visible-SWIR fornisce un'acquisizione di immagini affidabile e priva di distorsioni per applicazioni industriali esigenti.
Caratteristiche principali
- Ampio intervallo spettrale: 400–1200 nm
- Correzione dello spostamento di messa a fuoco dalla luce visibile al SWIR
- Nessuna rifocalizzazione richiesta tra l'acquisizione di immagini nella luce visibile e nel SWIR
- Opzioni di ingrandimento: 0.7×, 1×, 2×, 4×
- Cerchio immagine fino a Φ24 mm
- Disponibili versioni con illuminazione coassiale e non coassiale
- Ottiche telecentriche ad alto contrasto e a bassa distorsione
- Adatto per l'acquisizione di immagini industriale e scientifica
Principali applicazioni
- Ispezione dei semiconduttori
- Ispezione di celle solari e wafer
- Identificazione dei materiali
- Ispezione di display e vetro
- Ispezione di PCB ed elettronica
- Misurazione di precisione e metrologia
- Acquisizione di immagini scientifica e di laboratorio
- Rilevamento dei difetti oltre le lunghezze d'onda visibili
Specifiche
| Modello | Ing. | WD | Cerchio immagine | Coassiale |
|---|---|---|---|---|
| TLVS-0.7XD-H1.1 | 0.7X | 110 mm | Φ20.5 mm | Sì |
| TLVS-0.7X-H1.1 | 0.7X | 110 mm | Φ20.5 mm | No |
| TLVS-1.0XD-H1.1 | 1.0X | 110 mm | Φ24 mm | Sì |
| TLVS-1.0X-H1.1 | 1.0X | 110 mm | Φ24 mm | No |
| TLVS-2.0XD-H1.1 | 2.0X | 110 mm | Φ24 mm | Sì |
| TLVS-2.0X-H1.1 | 2.0X | 110 mm | Φ24 mm | No |
| TLVS-4.0XD-H1.1 | 4.0X | 110 mm | Φ20.5 mm | Sì |
| TLVS-4.0X-H1.1 | 4.0X | 110 mm | Φ20.5 mm | No |
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