Caméra à balayage de ligne SWIR 2K iBt-SW2K | 196kHz CoaXPress
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Caméra à balayage de ligne SWIR 2K iBt-SW2K | 196kHz CoaXPress - 2048x1 40 kHz GigE / sans objectif [avec câbles] est en rupture de stock et sera expédié dès qu’il sera de retour en stock.
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FAQ
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Caméra à balayage de ligne SWIR 2K iBt-SW2K | 196kHz CoaXPress - 2048x1 40 kHz GigE / sans objectif [avec câbles] est en rupture de stock et sera expédié dès qu’il sera de retour en stock.
Description du produit
Caméra SWIR haute vitesse 2K à balayage de ligne pour inspection industrielle
L'iBt-SW2K est une caméra SWIR haute vitesse à balayage de ligne conçue pour les applications exigeantes de vision industrielle et d'inspection continue. Disponible en configurations 2048 × 1 et 2560 × 1, elle combine une imagerie SWIR haute résolution avec plusieurs options d'interfaces haute vitesse.
La version 2048 × 1 dispose de pixels de 12,5μm et prend en charge une fréquence de ligne allant jusqu'à 40kHz via des interfaces GigE ou Camera Link. La version 2560 × 1 utilise des pixels de 10μm et atteint jusqu'à 196kHz via une interface CoaXPress, offrant une solution ultra-haute vitesse pour les lignes de production à haute vitesse.
Toutes les versions prennent en charge la plage de longueurs d'onde SWIR de 950–1700nm et les montures d'objectif M42, permettant une intégration flexible avec des optiques industrielles compatibles SWIR.
Caractéristiques principales
- Résolution SWIR 2K+ – Options de balayage de ligne de 2048 ou 2560 pixels.
- Fréquence de ligne jusqu'à 196kHz – Imagerie haute vitesse pour les lignes de production exigeantes.
- SWIR 950–1700nm – Imagerie InGaAs au-delà du spectre visible.
- Multiples interfaces – Options GigE, Camera Link et CoaXPress.
- Pixels 10μm / 12,5μm – Configurations flexibles de résolution et de sensibilité.
- Monture d'objectif M42 – Intégration facile avec des optiques industrielles SWIR.
Applications idéales
- Vision industrielle SWIR
- Inspection haute vitesse de bandes
- Tri de matériaux
- Inspection alimentaire
- Inspection de semi-conducteurs
- Inspection de cellules solaires
Spécifications
| Modèle | Résolution | Taille du pixel | Fréquence de ligne | Interface | Monture |
|---|---|---|---|---|---|
| iBt-SW2K-G | 2048 × 1 | 12,5μm | 40kHz | GigE | M42 |
| iBt-SW2K-C | 2048 × 1 | 12,5μm | 40kHz | Camera Link | M42 |
| iBt-SW2K-X | 2560 × 1 | 10μm | 196kHz | CoaXPress | M42 |
Spécifications de l'objectif SWIR M42 900-1700nm
| Modèle | FL | Ouverture | FOV | WD |
|
VLEN2-2519SW-H3
|
25mm |
F1.9-22
|
58°
|
0.4-0.95m
|
|
VLEN2-4016SW-H3
|
40mm |
F1.6-22
|
37°
|
0.4-0.95m
|
|
VLEN2-5014SW-H3
|
50mm |
F1.4-22
|
30° /24° /18°
|
0.4-0.95m
|

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