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Vision Datum  |  SKU : VT-LEM10021SW-H2-C

Objectif téléphoto SWIR manuel 100mm 200mm

Prix habituel $2,090.00
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相机镜头类型
Distance focale
Montage

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FAQ

Q1: What wavelength range does this lens support?
A: It supports 400–1700nm SWIR imaging, covering visible extended infrared to shortwave infrared applications.

Q2: What sensor size is compatible?
A: The lens is designed for 1-inch (25.6mm) SWIR sensors, commonly used in industrial and scientific cameras.

Q3: What focal lengths are available?
A: The series includes 100mm, 200mm, 300mm, and 400mm telephoto options for flexible magnification.

Q4: Is this a fixed or zoom lens?
A: It is a manual focus fixed focal length lens, with adjustable aperture for imaging optimization.

Q5: What interfaces does it support?
A: It supports C-Mount and M42 mounts, making it compatible with most SWIR machine vision systems.

Q6: What industries use this lens?
A: It is widely used in semiconductor inspection, material analysis, remote sensing, and industrial machine vision.

Description du produit 

La série d'objectifs téléobjectif SWIR (100–400mm) est conçue pour l'imagerie haute performance dans la plage infrarouge à ondes courtes de 400–1700nm. Elle prend en charge les capteurs de 1 pouce et offre une imagerie stable et à fort contraste pour les tâches d'inspection à longue distance et de précision.

Avec plusieurs options de focale (100mm, 200mm, 300mm, 400mm), l'objectif offre une amplification flexible pour les applications industrielles et scientifiques. Sa conception à mise au point manuelle et ouverture réglable permet un réglage optique précis pour différentes distances de travail et environnements.

Compatible avec les interfaces C-Mount et M42, cet objectif est largement utilisé dans les systèmes de vision machine SWIR pour l'inspection des semi-conducteurs, l'analyse des matériaux et la télédétection.

Caractéristiques principales

  • Plage SWIR : 400–1700nm
  • Prend en charge le format de capteur 1"
  • Focales : 100 / 200 / 300 / 400mm
  • Mise au point manuelle avec ouverture réglable
  • Compatible C-Mount / M42
  • Capacité d'imagerie à longue distance
  • Imagerie SWIR à fort contraste
  • Conception optique de qualité industrielle

Applications principales

  • Inspection des semi-conducteurs
  • Analyse des matériaux et des wafers
  • Détection de défauts industriels
  • Imagerie SWIR longue portée
  • Recherche scientifique
  • Systèmes de télédétection
  • Inspection aérospatiale

Spécifications

Modèle EFL
F#
Longueur d'onde
VT-LEM10021SW-H2
100mm
F2.1
800-1700nm
VT-LEM20040SW-H1
200mm
F4-22
900-1700nm
VT-LEM30040SW-H1
300mm
F4-22
400-1700nm
VT-LEM40056SW-H1
400mm
F5.6
900-1700nm

 

 

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