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Vision Datum  |  SKU : TLSW-0.5XD-H1.1

Série d'objectifs télécentriques SWIR TLSW-H1.1 | 950–1800nm pour capteurs InGaAs 1.1"

Prix habituel $6,600.00
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FAQ

Q: What sensors are the TLSW Series lenses designed for?
A: The TLSW Series is optimized for 1.1" InGaAs sensors, including the Sony IMX990, providing high-performance SWIR imaging from 950–1800 nm.

Q: What spectral range do these lenses support?
A: The lenses are specially designed for 950–1800 nm SWIR transmission, enabling imaging beyond the visible spectrum.

Q: What magnification options are available?
A: The series offers 0.5×, 0.7×, 1×, 2×, and 4× magnifications to meet different field-of-view and precision measurement requirements.

Q: Are both coaxial and non-coaxial versions available?
A: Yes. The 1× and 2× models are available in both coaxial and non-coaxial configurations for flexible illumination setups.

Q: Can the depth of field be adjusted?
A: Yes. The 1× and 2× models feature adjustable iris control, allowing users to optimize depth of field for specific applications.

Q: What applications are these SWIR telecentric lenses suitable for?
A: They are ideal for semiconductor inspection, wafer analysis, solar cell inspection, precision metrology, material identification, and scientific imaging.

Q: Why use SWIR telecentric lenses instead of visible-light optics?
A: SWIR telecentric lenses can reveal material differences and defects invisible to visible-light systems, while maintaining low distortion and high measurement accuracy.

Description du produit

Les objectifs télécentriques SWIR de la série TLSW sont optimisés pour les capteurs InGaAs de 1,1", y compris le Sony IMX990, offrant une imagerie de haute précision sur la plage spectrale de 950 à 1800 nm. Disponibles en grossissements de 0,5×, 0,7×, 1×, 2× et 4×, ces objectifs révèlent les différences de matériaux et les défauts invisibles aux systèmes en lumière visible.

Conçus pour la vision par ordinateur et la métrologie de précision, la série TLSW offre une distorsion ultra-faible, une haute résolution et des configurations coaxiales et non coaxiales. Les modèles 1× et 2× disposent d'un contrôle d'iris ajustable pour une optimisation flexible de la profondeur de champ. Compatibles avec les caméras SWIR et les systèmes C-Mount, ces objectifs sont idéaux pour l'inspection des semi-conducteurs, l'analyse des wafers, l'inspection des cellules solaires et les applications d'imagerie scientifique.

Caractéristiques principales

  • Optimisé pour les capteurs Sony IMX990 et InGaAs de 1,1"
  • Transmission SWIR de 950 à 1800 nm
  • Grossissements de 0,5× à 4×
  • Distorsion ultra-faible et haute résolution
  • Versions coaxiales et non coaxiales disponibles
  • Iris ajustable sur les modèles 1× et 2×
  • Interface C-Mount pour une intégration facile
  • Convient à la mesure de précision et à l'inspection SWIR

Applications principales

  • Inspection des semi-conducteurs et des wafers
  • Analyse des cellules solaires et photovoltaïques
  • Métrologie de précision
  • Inspection électronique
  • Identification des matériaux
  • Vision par ordinateur SWIR
  • Imagerie scientifique et recherche

Spécifications

Objectif télécentrique SWIR C-Mount 1,1" 950-1800nm

Modèle Coaxial Gross. WD F/# DOF
TLSW-0.5XD-H1.1 Oui 0.5× 116.4mm 6.3 2.02mm
TLSW-0.7XD-H1.1 Oui 0.7× 116.0mm 6.4 1.05mm
TLSW-1.0XD-H1.1 Oui 1.0× 110.0mm 7.0 0.56mm
TLSW-1.0X-H1.1 Non 1.0× 110.0mm 7.0 0.56mm
TLSW-2.0XD-H1.1 Oui 2.0× 110.2mm 11.5 0.23mm
TLSW-2.0X-H1.1 Non 2.0× 110.2mm 11.5 0.23mm
TLSW-4.0XD-H1.1 Oui 4.0× 110.3mm 20.0 0.10mm

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