BTL-H1 Serie 1" C-Bajonett Bi-Telezentrische Objektive für Bauteilmessung
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BTL-H1 Serie 1" C-Bajonett Bi-Telezentrische Objektive für Bauteilmessung - [WD]330mm [FOV]190Φmm [Mag.]0.087x ist auf Lager und wird versandt, sobald es wieder verfügbar ist
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BTL-H1 Serie 1" C-Bajonett Bi-Telezentrische Objektive für Bauteilmessung - [WD]330mm [FOV]190Φmm [Mag.]0.087x ist auf Lager und wird versandt, sobald es wieder verfügbar ist

Produktbeschreibung
Die BTL-H1-Serie Telezentrische Objektive sind hochleistungsstarke optische Lösungen, die für großformatige Machine-Vision- und Präzisionsmesstechnikanwendungen entwickelt wurden. Für 1" (Φ16.6 mm) Sensoren konzipiert, liefert diese Serie eine extrem geringe Verzerrung, stabile Vergrößerung und hochauflösende Bildgebung über einen weiten Arbeitsabstandsbereich von 73 mm bis 465 mm.
Mit Vergrößerungsoptionen von 0.638× bis hinunter zu 0.055× unterstützt die BTL-H1-Serie sowohl mittlere als auch ultragroße Sichtfeld-Inspektionssysteme. Ihr fortschrittliches telezentrisches Design gewährleistet eine extrem geringe Verzerrung (<0.1%) und hohe Telezentritätsleistung, was sie ideal für hochpräzise dimensionsmessende Messungen und industrielle Inspektion macht.
Für anspruchsvolle Umgebungen konzipiert, erzielt die BTL-H1-Serie eine hervorragende Auflösungsleistung (MTF30 bis zu 145 lp/mm) und unterstützt lange Arbeitsabstände für großflächige Inspektionseinrichtungen. Die robuste C-Mount-Mechanikstruktur gewährleistet eine einfache Integration in automatisierte Produktionslinien und hochendige Machine-Vision-Systeme.
Hauptmerkmale
- Unterstützt 1" (Φ16.6 mm) großformatige Sensoren
- Ultrabreiter Vergrößerungsbereich: 0.055× – 0.638×
- Arbeitsabstandsbereich: 73 mm – 465 mm
- Extrem geringe Verzerrung: <0.1%
- Hohe Auflösungsleistung: MTF30 bis zu 145 lp/mm
- Hohe Telezentrität für Präzisionsmessung
- Lange Arbeitsabstandsoptionen für große FOV-Systeme
- Robustes industrielles C-Mount-Design
- Geeignet für hochendige Automatisierungs- und Messtechniksyste
Hauptanwendungen
- Halbleiterwafer-Inspektion
- Präzise dimensionsmessende Messung
- LCD / OLED-Panel-Inspektion
- PCB- und Elektronikinspektion
- Großformatige industrielle Messtechnik
- Automatisierte optische Inspektion (AOI)
- Inspektion von Batterien und Energiekomponenten
- Hochpräzise Machine-Vision-Systeme
Spezifikationen
| Modell-Nr. | FOV | Vergr. | WD (mm) | MTF30 (lp/mm) |
|---|---|---|---|---|
| BTL-0.638X-73-H1 | Φ26mm | 0.638x | 73±1 | >90 |
| BTL-0.46X-110-H1 | Φ36mm | 0.46x | 110±2 | >100 |
| BTL-0.395X-118-H1 | Φ42mm | 0.395x | 118±3 | >130 |
| BTL-0.346X-128-H1 | Φ48mm | 0.346x | 128±3 | >130 |
| BTL-0.346X-138-H1 (LM) | Φ48mm | 0.346x | 138±3 | >90 |
| BTL-0.296X-138-H1 (LM) | Φ56mm | 0.296x | 138±3 | >130 |
| BTL-0.259X-158-H1 (LM) | Φ64mm | 0.259x | 158±3 | >130 |
| BTL-0.231X-178-H1 (LM) | Φ72mm | 0.231x | 178±3 | >135 |
| BTL-0.208X-228-H1 (LM) | Φ80mm | 0.208x | 228±4 | >135 |
| BTL-0.184X-208-H1 (LM) | Φ90mm | 0.184x | 208±3 | >135 |
| BTL-0.166X-238-H1 (LM) | Φ100mm | 0.166x | 238±4 | >140 |
| BTL-0.151X-263-H1 (LM) | Φ110mm | 0.151x | 263±4 | >140 |
| BTL-0.138X-273-H1 (LM) | Φ120mm | 0.138x | 273±5 | >140 |
| BTL-0.122X-288-H1 (LM) | Φ136mm | 0.122x | 288±5 | >140 |
| BTL-0.111X-300-H1 (LM) | Φ150mm | 0.111x | 300±5 | >145 |
| BTL-0.098X-318-H1 (LM) | Φ170mm | 0.098x | 318±5 | >140 |
| BTL-0.087X-330-H1 (LM) | Φ190mm | 0.087x | 330±5 | >140 |
| BTL-0.077X-372-H1 (LM) | Φ216mm | 0.077x | 372±5 | >140 |
| BTL-0.069XH-410-H1 (LM) | Φ240mm | 0.069x | 410±6 | >140 |
| BTL-0.064X-338-H1 (LM) | Φ258mm | 0.064x | 338±5 | >140 |
| BTL-0.055X-465-H1 (LM) | Φ300mm | 0.055x | 465±6 | >135 |
Hinweis 1: Die hintere Brennweite des Modells mit (LM) ist justierbar.
Hinweis 2: Wichtiger Hinweis: Der oben genannte DOF ist nur ein theoretischer Wert bei der idealen Blende (z. B. ±763@F11). Den tatsächlichen DOF oder den benötigten DOF bitte vor der Bestätigung der Bestellung mit unserem Vertriebsingenieur abklären.

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