400–1200 nm Sichtbar-SWIR Telezentrisches Objektiv | Fokusverschiebungskorrektur TLVS-H1.1
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400–1200 nm Sichtbar-SWIR Telezentrisches Objektiv | Fokusverschiebungskorrektur TLVS-H1.1 - 0.7x WD: 110mm / Koaxial ist auf Lager und wird versandt, sobald es wieder verfügbar ist
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400–1200 nm Sichtbar-SWIR Telezentrisches Objektiv | Fokusverschieb...
400–1200 nm Sichtbar-SWIR Telezentrisches Objektiv | Fokusverschiebungskorrektur TLVS-H1.1 - 0.7x WD: 110mm / Koaxial ist auf Lager und wird versandt, sobald es wieder verfügbar ist
Produktbeschreibung
Die Telezentrische-Objektiv-Serie für den sichtbaren und SWIR-Bereich ist für hochpräzise Bildgebung über einen breiten Spektralbereich von 400–1200 nm konzipiert und ermöglicht nahtlose Bildgebung von sichtbarem Licht bis hin zu SWIR ohne Nachfokussierung. Dank der fortschrittlichen Korrektur des Fokusverschiebungseffekts halten diese Objektive scharfe Bilder über Wellenlängen hinweg aufrecht, was sie ideal für Anwendungen macht, die sowohl sichtbare als auch nahinfrarote Bildgebung erfordern.
Verfügbar in 0.7×, 1×, 2× und 4× Vergrößerung, unterstützt die Serie Bildkreise bis zu Φ24 mm und bietet sowohl koaxiale als auch nicht-koaxiale Beleuchtungskonfigurationen. Durch die Eliminierung von Fokussprüngen zwischen sichtbaren und SWIR-Wellenlängen decken diese telezentrischen Objektive Materialunterschiede und Defekte auf, die mit nur sichtbarem Licht schwer oder unmöglich zu erkennen sind.
Entwickelt für die maschinelle Bildverarbeitung, die Halbleiterprüfung, die Solarzellenanalyse und die wissenschaftliche Bildgebung, bietet die Telezentrische-Objektiv-Serie für den sichtbaren und SWIR-Bereich zuverlässige, verzerrungsfreie Bildgebung für anspruchsvolle industrielle Anwendungen.
Hauptmerkmale
- Breiter Spektralbereich: 400–1200 nm
- Korrektur des Fokusverschiebungseffekts von sichtbarem Licht bis SWIR
- Keine Nachfokussierung zwischen sichtbarer und SWIR-Bildgebung erforderlich
- Vergrößerungsoptionen: 0.7×, 1×, 2×, 4×
- Bildkreis bis zu Φ24 mm
- Koaxiale und nicht-koaxiale Beleuchtungsvarianten verfügbar
- Hochkontrastige, niedrig verzerrte telezentrische Optik
- Geeignet für industrielle und wissenschaftliche Bildgebung
Hauptanwendungen
- Halbleiterprüfung
- Solarzellen- und Waferprüfung
- Materialidentifikation
- Display- und Glasprüfung
- PCB- und Elektronikprüfung
- Präzisionsmessung und Metrologie
- Wissenschaftliche und Laborbildgebung
- Defekterkennung jenseits der sichtbaren Wellenlängen
Spezifikationen
| Modell | Vergr. | WD | Bildkreis | Koaxial |
|---|---|---|---|---|
| TLVS-0.7XD-H1.1 | 0.7X | 110 mm | Φ20.5 mm | Ja |
| TLVS-0.7X-H1.1 | 0.7X | 110 mm | Φ20.5 mm | Nein |
| TLVS-1.0XD-H1.1 | 1.0X | 110 mm | Φ24 mm | Ja |
| TLVS-1.0X-H1.1 | 1.0X | 110 mm | Φ24 mm | Nein |
| TLVS-2.0XD-H1.1 | 2.0X | 110 mm | Φ24 mm | Ja |
| TLVS-2.0X-H1.1 | 2.0X | 110 mm | Φ24 mm | Nein |
| TLVS-4.0XD-H1.1 | 4.0X | 110 mm | Φ20.5 mm | Ja |
| TLVS-4.0X-H1.1 | 4.0X | 110 mm | Φ20.5 mm | Nein |
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