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Vision Datum  |  SKU: VT-LEM10021SW-H2-C

100mm 200mm manuelles Teleobjektiv SWIR Objektiv

Normaler Preis $2,090.00
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Kamerabjektivtyp
Brennweite
Bajonett

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FAQ

Q1: What wavelength range does this lens support?
A: It supports 400–1700nm SWIR imaging, covering visible extended infrared to shortwave infrared applications.

Q2: What sensor size is compatible?
A: The lens is designed for 1-inch (25.6mm) SWIR sensors, commonly used in industrial and scientific cameras.

Q3: What focal lengths are available?
A: The series includes 100mm, 200mm, 300mm, and 400mm telephoto options for flexible magnification.

Q4: Is this a fixed or zoom lens?
A: It is a manual focus fixed focal length lens, with adjustable aperture for imaging optimization.

Q5: What interfaces does it support?
A: It supports C-Mount and M42 mounts, making it compatible with most SWIR machine vision systems.

Q6: What industries use this lens?
A: It is widely used in semiconductor inspection, material analysis, remote sensing, and industrial machine vision.

Produktbeschreibung 

Die SWIR-Teleobjektiv-Serie (100–400mm) ist für hochauflösende Bildgebung im kurzwelligen Infrarotbereich von 400–1700nm konzipiert. Sie unterstützt 1-Zoll-Sensoren und liefert stabile, hochkontrastige Bilder für Aufgaben der Langstrecken- und Präzisionsinspektion.

Mit mehreren Brennweitenoptionen (100mm, 200mm, 300mm, 400mm) bietet das Objektiv eine flexible Vergrößerung für industrielle und wissenschaftliche Anwendungen. Das manuelle Fokussieren und die einstellbare Blende ermöglichen eine präzise optische Anpassung für verschiedene Arbeitsabstände und Umgebungen.

Kompatibel mit C-Mount- und M42-Schnittstellen, wird dieses Objektiv häufig in SWIR-Machine-Vision-Systemen für die Halbleiterinspektion, Materialanalyse und Fernerkundung eingesetzt.

Hauptmerkmale

  • SWIR-Bereich: 400–1700nm
  • Unterstützt 1"-Sensorformat
  • Brennweiten: 100 / 200 / 300 / 400mm
  • Manuelle Fokussierung mit einstellbarer Blende
  • C-Mount / M42 kompatibel
  • Langstrecken-Bildgebungsfähigkeit
  • Hochkontrastige SWIR-Bildgebung
  • Industrietaugliches optisches Design

Hauptanwendungen

  • Halbleiterinspektion
  • Material- und Waferanalyse
  • Industrielle Fehlererkennung
  • Langstrecken-SWIR-Bildgebung
  • Wissenschaftliche Forschung
  • Fernerkundungssysteme
  • Inspektion in der Luft- und Raumfahrt

Spezifikationen

Modell EFL
F#
Wellenlänge
VT-LEM10021SW-H2
100mm
F2.1
800-1700nm
VT-LEM20040SW-H1
200mm
F4-22
900-1700nm
VT-LEM30040SW-H1
300mm
F4-22
400-1700nm
VT-LEM40056SW-H1
400mm
F5.6
900-1700nm

 

 

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