كاميرا SWIR بدقة 640×512 بسرعة 257.8fps عبر GigE Vision وطول موجي 400–1700nm | Sony IMX991 مع تبريد iBX-SWG991A/J

💳 رسوم المعاملات غير قابلة للاسترداد
عند إصدار استرداد، يرجى ملاحظة أن منصات معالجة المدفوعات لا تعيد رسوم خدماتها. هذه الرسوم لا تفرضها متجرتنا، بل تفرضها جهات خارجية (Shopify & PayPal). سيتم خصم رسوم المعالجة من نسبة معينة من مبلغ الطلب.

Shopify Payments: رسوم معاملة بنسبة 2% غير قابلة للاسترداد.
PayPal: تفرض رسومًا بنسبة 4.4% + 0.30 دولار أمريكي، وهي أيضًا غير قابلة للاسترداد.

سيتم خصم هذه المبالغ من إجمالي المبلغ المسترد.

💬 سياسة الاسترداد – إشعار مهم بشأن الرسوم
نحن ندرك أنك قد تحتاج أحيانًا إلى إلغاء طلب. إليك ما تحتاج إلى معرفته بشأن الاسترداد على موقعنا:

🧾 إشعار لعملاء الولايات المتحدة
بسبب الرسوم الجمركية المعمول بها، يرجى إرسال بريد إلكتروني يحتوي على اسم شركتك ورقم حساب FedEx أو UPS أو DHL إلى market@visiondatum.com بعد تقديم طلبك. (لعملاء الولايات المتحدة فقط)

✅ سياسة إنتاج الطلبات
جميع منتجاتنا تُصنع حسب الطلب أو تُجهز خصيصًا بناءً على شراكتك. نلتمس من العملاء تأكيد احتياجاتهم قبل تقديم الطلب. إذا كنت بحاجة إلى مساعدة أو توضيح إضافي قبل الطلب، فلا تتردد في التواصل معنا - نحن هنا للمساعدة!

Q: What is the spectral range of IMX991?
A: The Sony IMX991 sensor offers a spectral response range of 400nm to 1700nm, covering both the visible and short-wave infrared (SWIR) spectrum. This wide range enables imaging applications such as semiconductor inspection, silicon wafer analysis, spectroscopy, material sorting, and machine vision.

Q: Which sensor does this camera use?
A: This camera is equipped with the Sony IMX991 InGaAs sensor, featuring a resolution of 640 × 512 pixels and a 5μm pixel size. The sensor delivers high sensitivity, low noise performance, and excellent image quality across the 400–1700nm wavelength range.

Q: Can SWIR cameras see through silicon?
A: Yes. SWIR cameras can image through silicon because silicon becomes increasingly transparent at wavelengths above approximately 1100nm. This capability allows SWIR cameras to reveal internal structures, defects, and packaging features that are not visible with standard visible-light cameras, making them ideal for semiconductor inspection and failure analysis.

Q: What is a SWIR camera used for?
A: SWIR cameras are used in a wide range of industrial and scientific applications, including semiconductor inspection, machine vision, spectroscopy, solar cell inspection, laser beam analysis, defense imaging, agricultural monitoring, and quality control. Their ability to capture information beyond the visible spectrum makes them valuable for detecting features that conventional cameras cannot see.

Q: Why use TEC cooling in a SWIR camera?
A: TEC (Thermoelectric Cooling) helps reduce sensor noise and improve image stability by maintaining a controlled detector temperature. This is especially beneficial for long exposure imaging, low-light environments, and precision measurement applications where image quality and consistency are critical.

Q: How do I integrate a SWIR camera into a machine vision system?
A: SWIR cameras can be integrated into machine vision systems through standard industrial interfaces such as USB3.0 or GigE Vision. They can be connected to industrial PCs, image processing software, frame grabbers, and automation platforms. Depending on the application, the camera can be combined with SWIR lenses, illumination sources, and machine vision software for inspection, measurement, and process monitoring tasks.

Q: What is the difference between USB3.0 and GigE SWIR cameras?
A: USB3.0 SWIR cameras provide high-speed data transfer and low latency, making them ideal for laboratory, R&D, and local image acquisition. GigE SWIR cameras support longer cable distances, multi-camera systems, and industrial network integration, making them well suited for factory automation and machine vision applications.

Q: What industries commonly use Sony IMX991 SWIR cameras?
A: Sony IMX991 SWIR cameras are widely used in semiconductor inspection, machine vision, scientific research, solar cell testing, electronics manufacturing, and defense applications. Their 400–1700nm spectral sensitivity enables imaging beyond the visible spectrum for advanced inspection and analysis tasks.